中国科学院上海微系统与信息技术研究所李铁获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院上海微系统与信息技术研究所申请的专利硅纳米线传感器的阈值电压标定及定量测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116718639B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310365344.1，技术领域涉及：G01N27/00；该发明授权硅纳米线传感器的阈值电压标定及定量测试方法是由李铁;陈栋钦设计研发完成，并于2023-04-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本硅纳米线传感器的阈值电压标定及定量测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种硅纳米线传感器的阈值电压标定及定量测试方法，利用硅纳米线传感器表面探针修饰前、后阈值电压的变化量，对目标物的阈值电压响应进行归一化处理，确定目标物响应标准曲线，来获取目标物的阈值电压响应所对应的目标物的浓度；本发明在阈值电压标定前后，测试结果的一致性显著提升，可重复性好，标定过程不需要额外的设备，标定过程和测试过程可使用同一个设备，有效节省了成本，标定过程对硅纳米线传感器是无损的，不影响硅纳米线传感器的后续测试。
本发明授权硅纳米线传感器的阈值电压标定及定量测试方法在权利要求书中公布了：1.一种硅纳米线传感器的阈值电压标定及定量测试方法，其特征在于，所述硅纳米线传感器的阈值电压标定及定量测试方法包括： S11：于硅纳米线传感器表面进行探针修饰，并获取所述硅纳米线传感器表面探针修饰前、后的阈值电压变化量； S12：获取已修饰的所述硅纳米线传感器在不同浓度的标准溶液下对目标物的阈值电压响应； S13：基于所述硅纳米线传感器表面探针修饰前、后的阈值电压变化量，对所述目标物的阈值电压响应进行归一化处理，并确定目标物响应标准曲线； S14：基于所述目标物响应标准曲线，确定所述目标物的阈值电压响应所对应的所述目标物的浓度。
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