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龙图腾网获悉浙江华忆芯科技有限公司申请的专利一种确定闪存质量的方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115881200B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211626807.7，技术领域涉及：G11C16/34；该发明授权一种确定闪存质量的方法及装置是由金敏敏设计研发完成，并于2022-12-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种确定闪存质量的方法及装置在说明书摘要公布了：本发明实施例提供一种确定闪存质量的方法及装置，包括：对N个第一待检测闪存进行质量检测的第一前置条件设置；其中，任意两个第一待检测闪存的第一前置条件均不同；第一前置条件用于表征在不同温度下进行了不同的编程擦除PE次数；N个第一待检测闪存为同一系列不同批次生产的；针对任一第一待检测闪存，在每个预设操作条件下对第一待检测闪存的M个存储区block分别进行读写操作，确定M个block在读写操作后的第一比特翻转矩阵；预设操作条件为读写的温度条件；根据N个第一待检测闪存在各预设操作条件下的各第一比特翻转矩阵，确定该系列的各闪存的质量状况。

本发明授权一种确定闪存质量的方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种确定闪存质量的方法，其特征在于，包括： 对N个第一待检测闪存进行质量检测的第一前置条件设置；其中，任意两个第一待检测闪存的第一前置条件均不同；所述第一前置条件用于表征在不同温度下进行了不同的编程擦除PE次数；所述N个第一待检测闪存为同一系列不同批次； 针对任一第一待检测闪存，在每个预设操作条件下对所述第一待检测闪存的M个存储区block分别进行读写操作，确定M个block在读写操作后的第一比特翻转矩阵；预设操作条件为读写的温度条件； 根据N个第一待检测闪存在各预设操作条件下的各第一比特翻转矩阵，确定所述系列的各闪存的质量状况； 对第二待检测闪存进行质量检测的第二前置条件设置；其中，每个第二待检测闪存是在同一温度条件下累积进行不同的PE次数；在任一PE次数下，对所述第二待检测闪存在所述同一温度下分别对K个block进行读写操作，确定K个block在读写操作后的第二比特翻转矩阵； 根据N个第一待检测闪存在各预设操作条件下的各第一比特翻转矩阵，确定所述系列的各闪存的质量状况，包括：根据N个第一待检测闪存在各预设操作条件下的各第一比特翻转矩阵和第二待检测闪存的各第二比特翻转矩阵，确定所述系列的各闪存的质量状况。

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