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龙图腾网获悉厦门大学申请的专利一种存储器三单元耦合故障检测方法、终端设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115472208B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210971731.5，技术领域涉及：G11C29/32；该发明授权一种存储器三单元耦合故障检测方法、终端设备及介质是由李秋红;吴天成;谷岳峰设计研发完成，并于2022-08-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种存储器三单元耦合故障检测方法、终端设备及介质在说明书摘要公布了：本发明涉及一种存储器三单元耦合故障检测方法、终端设备及介质，该方法中提出了一种时间复杂度为58N的三单元耦合故障的高效检测算法，与现有检测算法对比，该算法具有更低的算法复杂度和更高的故障覆盖率，可以降低SRAM或DRAM存储器的检测成本。

本发明授权一种存储器三单元耦合故障检测方法、终端设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种存储器三单元耦合故障检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤一：通过地址任意顺序的写操作将待测存储器的存储单元设置为第一种背景数据I0； 步骤二：按照地址升序的方式，对所有存储单元依次进行读、读、有跳变写和无跳变写的操作； 步骤三：按照地址升序的方式，再次对所有存储单元依次进行读、读、有跳变写和无跳变写的操作； 步骤四：按照地址降序的方式，对所有存储单元依次进行读、读、有跳变写和无跳变写的操作； 步骤五：按照地址降序的方式，再次对所有存储单元依次进行读、读、有跳变写和无跳变写的操作； 步骤六：按照地址任意顺序的方式，对所有存储单元依次进行读操作； 步骤七：通过地址任意顺序的写操作将待测存储器的存储单元设置成第二种数据背景I1； 步骤八：按照地址升序的方式，对所有存储单元依次进行读、读、有跳变写、无跳变写、读、读、有跳变写、无跳变写的操作； 步骤九：按照地址任意顺序的方式，对所有存储单元依次进行读操作； 步骤十：通过地址任意顺序的写操作将待测存储器的存储单元设置成第三种数据背景I2； 步骤十一：按照地址升序的方式，对所有存储单元依次进行读、读、有跳变写、无跳变写、读、读、有跳变写、无跳变写的操作； 步骤十二：按照地址任意顺序的方式，对所有存储单元依次进行读操作； 步骤十三：通过地址任意顺序的写操作将待测存储器的存储单元设置成数据背景I3； 步骤十四：按照地址升序的方式，对所有存储单元依次进行读、读、有跳变写、无跳变写、读、读、有跳变写、无跳变写的操作； 步骤十五：按照地址任意顺序的方式，对所有存储单元依次进行读操作； 步骤十六：通过地址任意顺序的写操作将待测存储器的存储单元设置成数据背景I4； 步骤十七：按照地址升序的方式，对所有存储单元依次进行读、读、有跳变写、无跳变写、读、读、有跳变写、无跳变写的操作； 步骤十八：按照地址任意顺序的方式，对所有存储单元依次进行读操作。

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