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龙图腾网获悉浜松光子学株式会社申请的专利光学测定装置及光学测定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115398210B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180026082.5，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权光学测定装置及光学测定方法是由近藤房宣;岩田直树;松村朋和;竹下照雄设计研发完成，并于2021-01-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本光学测定装置及光学测定方法在说明书摘要公布了：在光学测定装置中，在第1处理中，对参考构件照射激发光，将包含来自参考构件的激发光的散射光的校准处理用光作为检测光予以检测，将与校准处理用光对应的校准信号作为检测信号，实施用于自第2处理中的检测信号去除与散射光对应的信号成分的校准处理。另外，在光学测定装置中，在第2处理中，对试样照射激发光，将包含自试样产生的荧光、及来自被照射了激发光的试样的散射光的测定对象光作为检测光予以检测，自测定信号去除与第1处理中的校准处理的实施结果中的散射光对应的信号成分。

本发明授权光学测定装置及光学测定方法在权利要求书中公布了：1.一种光学测定装置，其中， 是对测定对象物的光学特性进行测定的光学测定装置， 具备： 照射光学系统，其对照射对象照射照射光； 光检测部，其检测因所述照射光引起的检测光；及 信号处理部，其对与所述检测光对应的检测信号进行处理， 在第1处理中， 所述照射光学系统以与所述测定对象物不同的校准处理用的参考构件为所述照射对象，对所述参考构件照射所述照射光， 所述光检测部将包含来自被照射了所述照射光的所述参考构件的所述照射光的散射光的校准处理用光作为所述检测光予以检测， 所述信号处理部将与所述校准处理用光对应的校准信号作为所述检测信号，基于该校准信号，实施用于自第2处理中的所述检测信号去除与散射光对应的信号成分的校准处理， 在第2处理中， 所述照射光学系统以所述测定对象物为所述照射对象，对所述测定对象物照射所述照射光， 所述光检测部将包含自被照射了所述照射光的所述测定对象物产生的荧光、及来自被照射了所述照射光的所述测定对象物的散射光的测定对象光作为所述检测光予以检测， 所述信号处理部将与所述测定对象光对应的测定信号作为所述检测信号，自所述测定信号去除与所述第1处理中的所述校准处理中的所述散射光对应的信号成分， 所述参考构件包含反射所述照射光的反射构件， 所述反射构件未通过所述照射光的照射而产生荧光。

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