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龙图腾网获悉中国地质大学(北京)申请的专利基于SIMS校正磁黄铁矿硫同位素测量值的方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120629235B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511097029.0，技术领域涉及：G01N23/2258；该发明授权基于SIMS校正磁黄铁矿硫同位素测量值的方法及系统是由陈蕾;赵福德;李秋立;闫国英;柳建勇;孟文祥;宿泽江;杨莉;刘晓燕设计研发完成，并于2025-08-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于SIMS校正磁黄铁矿硫同位素测量值的方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于SIMS校正磁黄铁矿硫同位素测量值的方法及系统，属于矿物地质元素测量与校正领域。所述方法将黄铁矿标样、第一和第二磁黄铁矿标样、待测样品制成样品靶；采用SIMS测量靶中标样分析点、样品测试点的34S32S比值RM；根据RM计算硫同位素测量值；再计算黄铁矿标样测量值的平均值，查询推荐值，相减得到第一分馏值；同样得到第一和第二磁黄铁磁矿标样每个分析点的第二分馏值，计算每个第二分馏值与第一分馏值的差值；以ΔIMFStd,j为因变量y，以ΔIMFStd,jRM,j为自变量x，构建回归方程y=kx+b，再反向求解得到每个测试点的分馏值差值，并反算每个测试点的推荐值。本发明提高了磁黄铁矿硫同位素测量值的准确度。

本发明授权基于SIMS校正磁黄铁矿硫同位素测量值的方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于SIMS校正磁黄铁矿硫同位素测量值的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤： 步骤S1，将具有相同粒度的黄铁矿标样、第一磁黄铁矿标样、第二磁黄铁矿标样和待测磁黄铁矿样品，制成一个离子探针SIMS样品靶； 步骤S2，采用SIMS测量样品靶中黄铁矿标样中N+2个分析点、两个磁黄铁矿标样各自P和Q个分析点以及样品中X个测试点的34S32S比值RM；共有T=N+P+Q+X+2个点； 步骤S3，根据RM计算所有点的硫同位素测量值； 步骤S4，计算黄铁矿标样N个或N+2个分析点的硫同位素测量值的平均值，同时查询黄铁矿标样的硫同位素推荐值，用推荐值减去平均值得到黄铁矿标样的仪器分馏值，得到第一分馏值； 步骤S5，分别查询第一和第二磁黄铁磁矿标样的推荐值，用推荐值分别减去对应标样每个分析点的硫同位素测量值，得到两个磁黄铁矿标样每个分析点的仪器分馏值，得到P+Q个第二分馏值； 步骤S6，计算P+Q个第二分馏值与第一分馏值的差值，得到P+Q个ΔIMFStd,j； 步骤S7，根据ΔIMFStd,j计算每个对应分析点的ΔIMFStd,jRM,j；以ΔIMFStd,j为因变量y，以ΔIMFStd,jRM,j为自变量x，采用线性拟合构建回归方程y=kx+b，并求解回归系数k和b； 步骤S8，再以磁黄铁矿样品每个测试点的仪器分馏值差值ΔIMFSam,d为因变量y，以ΔIMFSam,dRM,d为自变量x，根据回归方程y=kx+b求解得到每个测试点的仪器分馏值差值ΔIMFSam,d； 步骤S9，根据磁黄铁矿样品每个测试点的仪器分馏值差值ΔIMFSam,d和第一分馏值，计算样品每个测试点的仪器分馏值；再根据对应测试点的测量值，得到样品每个测试点的推荐值。

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