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龙图腾网获悉科威尔技术股份有限公司申请的专利半导体器件测试用治具系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118837707B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411143711.4，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权半导体器件测试用治具系统是由许宜民;孙玉;陈如意;谢冰设计研发完成，并于2024-08-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本半导体器件测试用治具系统在说明书摘要公布了：本发明公开一种半导体器件测试用治具系统，包括治具座1、治具2、驱动装置3、电气接口4和治具座探针5，治具座1的侧面顶端开设有治具座电气接口4，驱动装置3分别设置在治具座1的上面板上，且驱动装置3的驱动头固定连接治具座1的下面板，治具座探针5固定设置在治具座1的上面板的下方，治具座探针5电气连接治具座电气接口4，治具座1的下面板上方两侧分别固定设置一滑槽12，滑槽12与治具2的两侧边配合，治具座1的下面板中部开孔，顶升治具2使得治具座探针5被压缩到治具2的PCB21上表面。本发明提供了一种快速的治具和被测件3的拆换方式，可以避免在被测件或治具在反复的安装、拆卸过程中导致线缆的疲劳。

本发明授权半导体器件测试用治具系统在权利要求书中公布了：1.一种半导体器件测试用治具系统，包括治具座1、治具2、驱动装置3、电气接口4和治具座探针5，治具座1上开设有能够放入治具2的治具仓，治具座1的侧面顶端开设有治具座电气接口4，其特征在于：治具座1的上部设置有上面板、下面板，驱动装置3分别设置在治具座1的上面板上，且驱动装置3的驱动头固定连接治具座1的下面板，治具座探针5固定设置在治具座1的上面板的下方，治具座探针5电气连接治具座电气接口4，治具座1的下面板上方两侧分别固定设置一滑槽12，滑槽12与治具2的两侧边配合，治具座1的下面板中部开孔，顶升治具2使得治具座探针5被压缩到治具2的PCB21上表面； 所述治具2包括PCB21、治具框架22、支撑柱23、顶柱24，探针25，PCB21固定在治具框架22上，PCB21上设置有贯穿PCB板的至少一套探针25，治具框架22的下方两侧设置有支撑柱23，支撑柱23使得在治具框架22的下方与放置治具2的台面之间形成一个空间，每套探针25的两侧分别设置一顶柱24，顶柱24的顶端高于探针25的顶端。

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