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龙图腾网获悉中国科学院上海光学精密机械研究所申请的专利一种提高计算重构光谱仪光谱重构能力的宽谱编码滤光片的设计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118151372B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410241780.2，技术领域涉及：G02B27/00；该发明授权一种提高计算重构光谱仪光谱重构能力的宽谱编码滤光片的设计方法是由朱美萍;高程;杨陈楹;李静平;温俊仁设计研发完成，并于2024-03-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种提高计算重构光谱仪光谱重构能力的宽谱编码滤光片的设计方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种提高计算重构光谱仪光谱重构能力的宽谱编码滤光片的设计方法，采用薄膜传输矩阵生成编码光谱、利用粒子群算法优化宽谱编码滤光片结构参数从而获得光谱间相关度较小、光谱内部差异性较大的光谱数据，最终设计出宽谱编码滤光片的膜系结构。本发明能够自动优化设计出相关度小、复杂度高的宽谱编码滤光片，从而降低膜系设计的难度，增强编码滤光片的编码能力，提高计算重构光谱仪的重构精度。

本发明授权一种提高计算重构光谱仪光谱重构能力的宽谱编码滤光片的设计方法在权利要求书中公布了：1.一种提高计算重构光谱仪光谱重构能力的宽谱编码滤光片的设计方法，采用一个编码滤光片，根据不同入射光偏振态和不同入射角度来输出若干组透射光谱用于编码待测光谱，其特征在于，所述设计方法包括以下步骤： 步骤一、确定待设计宽谱编码滤光片的初始膜系结构，包括基底材料、高折射率材料、低折射率材料、薄膜层数、每层薄膜的材料和每层薄膜厚度的优化设计范围，以及P和S偏振态下偏振光入射角； 步骤二、计算初始膜系结构在P和S偏振态下不同入射角的光谱的数据值，即第i条光谱的第k个数据值，其中，i＝1，2，3……N，k＝1，2，3……n，N为不同偏振光不同入射角下的光谱总数，n为每条光谱包括的数据值总数； 步骤三、构建光谱的评价函数E，公式如下： 式中，A、B为权重系数，为第i条和第j条光谱之间的相关系数rij的绝对值的平均值，Xik表示第i条光谱的第k个数据值，表示第i条光谱n个数据值的平均值，Xjk表示第j条光谱的第k个数据值，表示第j条光谱n个数据值的平均值，为组合数公式，i＝1，2，3……N，j＝1，2，3……N，且i≠j；为N条光谱内部差异性Vi的平均值的倒数，其中，表示第i条光谱各个数据值之间的差异性； 步骤四、设置种群的数目、加速度常数、权重取值范围、最低误差梯度容限、粒子初始位置、迭代次数，采用粒子群算法得到优化后的光谱数据及每层薄膜厚度； 所述步骤四中，种群的数量取值范围为20-50，加速度常数取值范围为2-4，权重取值范围为0.4-0.9，最低误差梯度容限取值范围为1×10-100-1×10-3，粒子初始位置可赋予确定初始值或随机值，算法更新迭代次数为500-5000。

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