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龙图腾网获悉北京信息科技大学申请的专利一种基于微腔光频梳的测距及线扫描三维成像的方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116106921B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310014715.1，技术领域涉及：G01S17/32；该发明授权一种基于微腔光频梳的测距及线扫描三维成像的方法及系统是由陈丽;胡国庆;秦莹;杨师瑜;周哲海设计研发完成，并于2023-01-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于微腔光频梳的测距及线扫描三维成像的方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及测距及三维成像技术领域，特别涉及一种基于微腔光频梳的测距及线扫描三维成像的方法及系统。本发明使用波长为近红外的微腔光频梳，使得物体表面可见光波段的杂散光对测量的影响降到最小，系统具备较强的抗干扰能力，满足工程测量的使用场景。同时在现有的技术条件下，波长为近红外波段微腔光频梳有成熟稳定的制造方法。并且该系统中，实现测距与物体表面三维成像可以通过快速更换测距模块与三维成像模块，使用一套系统完成两种功能。

本发明授权一种基于微腔光频梳的测距及线扫描三维成像的方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于微腔光频梳的测距及线扫描三维成像的方法，包括测距的方法和线扫描三维成像的方法，其中，所述的测距的方法包括以下步骤： A1、光频梳发出超短激光脉冲； A2、利用分光棱镜将激光器发出的激光脉冲分为两路，一路作为第一测量光路，一路作为第一参考光路； A3、第一参考光路与第一测量光路这两路激光分别经过参考反射镜和目标反射镜反射后，重新在分束器合束，得到两路的光程差； A4、利用光栅光谱仪接收干涉信号，并利用法布里－珀罗标准具的模式滤波原理对光频梳进行稀疏化； A5、通过对光学频率梳的干涉测距数据进行处理，由光谱解算待测距离L； 具体包括以下过程： 对于光谱分辨的绝对距离测量，光谱分析仪接收到的光谱干涉条纹的强度与光频率的关系表示为： 1 1式中sv为微腔光频梳的梳齿功率谱函数，干涉相位表示为： 2 其中，表示光程的延迟，写作如下公式： 3 3式中，nv为折射率，c为真空中的光速； 由光谱来结算待测距离l，对公式进行傅里叶变换将光谱到伪时域，得到： 4 Sτ为sν的傅里叶变换，由于功率谱密度函数gv为实函数，因此其傅里叶变换关于τ=0对称，出现三个峰，位置分别为−α，0，α，此时，利用带通滤波函数将α处的峰值单独提取出来，进行傅里叶逆变换，则得到： 5 其相位项由三角函数轻易获得： 6 每隔2π弧度，相位项就会出现相位突变，因此，将相位突变褶展开就得到了的真实绝对相位，其斜率就对应着待测距离L，表示为： 7 ，这里，n为空气的群折射率，v是激光光源的中心波长的函数； 最终，距离L表示为 8； 所述的线扫描三维成像的方法具体包括以下步骤： B1、光频梳发出超短激光脉冲，并将物体放在沿y方向平行移动的置物台上； B2、利用分光棱镜将激光器发出的激光脉冲分为两路，第一路作为第二测量光路，第二路经过扩束与一维色散元件，为第二参考光路； B3、第二参考光路经过参考反射镜反射，第二测量光路经过分梳棱镜扩散射入物理表面并形成回波后，两路激光在分束器重新进行合束，得到两路的光程差； B4、控制伺服电机使载物台沿y方向平移，直至线扫描光扫描过整个物体； B5、利用光栅光谱仪接收干涉信号，并利用法布里－珀罗标准具的模式滤波原理对光频梳进行稀疏化； B6、通过对光频梳的干涉测距数据进行处理，由光谱解算待测距离L，从而得出物体的三维成像。

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