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龙图腾网获悉武汉光谷信息光电子创新中心有限公司;武汉邮电科学研究院有限公司申请的专利一种电光调制器自动化测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115941034B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211584235.0，技术领域涉及：H04B10/07；该发明授权一种电光调制器自动化测试系统是由吴定益;胡晓;肖希;张红广;冯朋设计研发完成，并于2022-12-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电光调制器自动化测试系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种电光调制器自动化测试系统，涉及通信用电光调制器测试领域，包括第一层级测试组件、第二层级测试组件和第三层级测试组件，所述第一层级测试组件包括依次连接的可调谐激光器和偏振控制器，所述偏振控制器的后端用于连接第一光功率计和待测电光调制器，且待测电光调制器的后端连接有1×2光开关和第二光功率计，所述第一层级测试组件还包括用于与待测电光调制器相连的电流源表；第二层级测试组件包括依次连接的光电探测器和第二高频切换开关，以及依次连接的波形发生器、射频放大器和第一高频切换开关。本发明能够极大提升测试效率及良率，有助于降低电光调制器量产筛选成本，增加成品良率。

本发明授权一种电光调制器自动化测试系统在权利要求书中公布了：1.一种电光调制器自动化测试系统，用于对包含电光调制器的芯片、组件、器件、模块中的电光调制器进行性能测试，其特征在于，包括： 第一层级测试组件，所述第一层级测试组件包括依次连接的可调谐激光器和偏振控制器，所述偏振控制器的后端用于连接第一光功率计和待测电光调制器，且待测电光调制器的后端连接有1×2光开关和第二光功率计，所述第一层级测试组件还包括用于与待测电光调制器相连的电流源表； 第二层级测试组件，所述第二层级测试组件包括依次连接的光电探测器和第二高频切换开关，以及依次连接的波形发生器、射频放大器和第一高频切换开关，所述第一高频切换开关与待测电光调制器相连，所述第二高频切换开关的后端还连接有频谱仪、采样示波器和实时示波器，且所述波形发生器还与采样示波器连接，所述1×2光开关与光电探测器连接； 第三层级测试组件，所述第三层级测试组件包括光波元件分析仪，所述光波元件分析仪与1×2光开关和第一高频切换开关均连接； 其中， 所述第一层级测试组件还包括设于偏振控制器后端的第一光分束器，以及用于设于待测电光调制器的后端的第二光分束器； 所述第一光分束器的前端与偏振控制器相连，后端与第一光功率计和待测电光调制器相连； 所述第二光分束器的前端用于与待测电光调制器相连，后端与第二光功率计和1×2光开关相连。

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