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龙图腾网获悉青岛立昂晶电半导体科技有限公司申请的专利一种晶片检测台及检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115642100B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211270918.9，技术领域涉及：H01L21/66；该发明授权一种晶片检测台及检测方法是由彭杰;李雪峰;周一;郑东设计研发完成，并于2022-10-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种晶片检测台及检测方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种晶片检测台及检测方法，涉及晶片检测台技术领域。包括：底盒和用于承载待检晶片的检测盘，检测盘位于底盒的上方，对正机构安装在底盒上，用于将检测盘上的待检晶片对正放置，驱动机构安装在底盒上并与检测盘传动连接，驱动机构能够使检测盘转动，固定机构用于将晶片固定在检测盘上。与现有技术相比，本发明有以下技术优点：在测量同一晶片不同位置时，只需转动装置上的手摇转盘即可使伞型齿轮带动检测盘进行转动，对晶片不同位置进行测量，不需要反复放入取出晶片，在提高生产效率、节省人力成本的同时也极大的减少了晶片表面与检测平台的反复接触摩擦造成的表面划伤现象，有利于节约生产成本。

本发明授权一种晶片检测台及检测方法在权利要求书中公布了：1.一种晶片检测台，包括：底盒1和用于承载待检晶片的检测盘5，所述检测盘5位于所述底盒1的上方，其特征在于，还包括：对正机构、固定机构和驱动机构， 所述对正机构安装在所述底盒1上，用于将所述检测盘5上的待检晶片对正放置，所述对正机构包括：对正挡块6，所述对正挡块6固定安装在所述检测盘5的外缘， 所述驱动机构安装在所述底盒1上并与所述检测盘5传动连接，所述驱动机构能够使所述检测盘5转动， 所述固定机构用于将晶片固定在所述检测盘5上， 所述驱动机构包括：手摇转盘3、第一转动轴7、第一伞型齿轮8、第二伞型齿轮9和第二转动轴11，所述手摇转盘3转动安装在所述底盒1侧部，所述第一转动轴7一端固定安装在所述手摇转盘3上、另一端端部固定安装着所述第一伞型齿轮8，所述第二转动轴11一端与所述检测盘5固定连接、另一端端部固定安装着所述第二伞型齿轮9，所述第二伞型齿轮9和所述第一伞型齿轮8之间建立啮合传动连接， 所述第一转动轴7、第一伞型齿轮8、第二伞型齿轮9和第二转动轴11位于所述底盒1内部，所述第二转动轴11穿过所述底盒1与所述检测盘5固定连接，轴承10置于所述第二转动轴11与所述底盒1之间。

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