中国科学院微电子研究所詹强华获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院微电子研究所申请的专利辐射效应测试方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115112966B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110308165.5,技术领域涉及:G01R31/00;该发明授权辐射效应测试方法及系统是由詹强华;岂飞涛;李博;罗家俊;曾传滨;高林春;刘海南;滕瑞;赵发展设计研发完成,并于2021-03-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本辐射效应测试方法及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种辐射效应测试方法及系统,用于对待测电压源模块的辐射效应进行测试,包括:待测电压源模块处于未被辐射源模块辐射的状态时,待测电压源模块输出的第一输出电压为模数转换模块提供第一参考电压信号,模数转换模块采集固定模拟信号并将固定模拟信号转换成第一数字信号;待测电压源模块处于被辐射源模块辐射的状态时,待测电压源模块输出的第二输出电压为模数转换模块提供第二参考电压信号,模数转换模块采集固定模拟信号并将固定模拟信号转换成第二数字信号;根据第一数字信号和第二数字信号得到第二输出电压与第一输出电压的电压差,以获得待测电压源模块的辐射效应。本方法能够捕捉到辐射效应下电压源的微小输出变化。
本发明授权辐射效应测试方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种辐射效应测试方法,用于对待测电压源模块的辐射效应进行测试,其特征在于,包括: 所述待测电压源模块处于未被辐射源模块辐射的状态时,所述待测电压源模块输出的第一输出电压为模数转换模块提供第一参考电压信号,所述模数转换模块采集固定模拟信号并将所述固定模拟信号转换成第一数字信号; 所述待测电压源模块处于被所述辐射源模块辐射的状态时,所述待测电压源模块输出的第二输出电压为所述模数转换模块提供第二参考电压信号,所述模数转换模块采集所述固定模拟信号并将所述固定模拟信号转换成第二数字信号; 根据所述第一数字信号和所述第二数字信号得到所述第二输出电压与所述第一输出电压的电压差,以获得所述待测电压源模块的辐射效应; 所述待测电压源模块的所述第一输出电压通过线性电压变化电路为所述模数转换模块提供所述第一参考电压信号,所述待测电压源模块的所述第二输出电压通过所述线性电压变化电路为所述模数转换模块提供所述第二参考电压信号; 根据所述第一数字信号和所述第二数字信号得到所述第二输出电压与所述第一输出电压的电压差,包括: 所述固定模拟信号包括固定电压信号,所述第一数字信号包括第一二进制数字信号,所述第二数字信号包括第二二进制数字信号,将所述第一二进制数字信号转换成第一十进制数字信号,将所述第二二进制数字信号转换成第二十进制数字信号; 根据1、2、3得到所述第二输出电压与所述第一输出电压的所述电压差z,其中,a为所述第一输出电压,b为所述固定电压信号的电压,c为所述第一二进制数字信号和所述第二二进制数字信号的位数,d为所述第一十进制数字信号,e为所述第二十进制数字信号,x为所述第一参考电压信号的量化范围,y为所述第二参考电压信号的量化范围。
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