深圳市兴华炜科技有限公司;苏州光韵达自动化设备有限公司张卫华获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市兴华炜科技有限公司;苏州光韵达自动化设备有限公司申请的专利一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111735401B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010817367.8，技术领域涉及：G01B11/06；该发明授权一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方法及装置是由张卫华;周涛;郑孝勇设计研发完成，并于2020-08-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方法及装置在说明书摘要公布了：本发明涉及一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方法及装置，该方法包括采用两组点激光源分别朝被测物体的上、下表面发射斜向的第一激光、斜向的第二激光，进而获取第一激光在被测物体上所对应反射点的第一坐标、第二激光在被测物体上所对应反射点的第二坐标，以及第一激光与水平面所成夹角θ，进而计算第一坐标与预设定原点的水平偏移量△A，以及第二坐标与预设定原点的水平偏移量△B，即得被测物体的厚度H＝|△A‑△B|*tagθ，本方法适用于大平面或超大平面的中心点厚度测量、适用于多种形状的物体、厚度检测不会受到微小翘曲的干扰、无须设置相对测试基准。
本发明授权一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方法，其特征在于，包括如下步骤： 采用两组点激光源分别朝被测物体的上、下表面发射斜向的第一激光、斜向的第二激光；其中，被测物体不是透明物体，两组点激光源同轴； 获取第一激光在被测物体上所对应反射点的第一坐标、第二激光在被测物体上所对应反射点的第二坐标，以及第一激光与水平面所成夹角θ； 计算第一坐标与预设定原点的水平偏移量△A，以及第二坐标与预设定原点的水平偏移量△B； 被测物体的厚度H=|△A-△B|*tagθ； 获取坐标的步骤，包括： 采用两组相机分别获取第一激光在被测物体上所对应反射点的第一图像、第二激光在被测物体上所对应反射点的第二图像；其中，两组相机的镜头正对，两组相机均直立放置，两组相机景深重叠部分的高度不小于被测物体加工前的初始厚度； 根据第一图像、第二图像分别获取第一坐标、第二坐标； 调试时，设置隔断板防止两组点激光源对射。
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