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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利装调基准平面的构建方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116224579B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310251927.1，技术领域涉及：G02B27/00；该发明授权装调基准平面的构建方法是由赵记彤;程路超;张健;闫佳钰;张春林;刘震宇;余毅设计研发完成，并于2023-03-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本装调基准平面的构建方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种装调基准平面的构建方法，主要包括：利用徕卡经纬仪的扫平功能建立一个90度平面作为基准，并通过徕卡经纬仪和激光测距仪测量数据计算待测平面上每个点位的高度差，再通过垫片的方式对各点位进行调平，由垫片和待测平台组成的新平面即为装调基准平面。本发明的装调基准平面的构建操作简单，并且仅需要徕卡经纬仪和激光测距仪，对设备要求较低，极大降低了经济成本，并且避免了现有技术中因激光线粗以及被平面反射等原因导致拼接平面精度较低的问题。

本发明授权装调基准平面的构建方法在权利要求书中公布了：1.一种装调基准平面的构建方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、测量待测平台的平面度； S11、将徕卡经纬仪的俯仰角度调整至90度0分0秒，利用所述徕卡经纬仪建立一个与大地平行的90度平面； S12、在待测平台上均匀划分多个相同的小平面区域，并在每个小平面区域上均匀设置至少三个点位，利用所述徕卡经纬仪测量每个点位与所述徕卡经纬仪的90度平面之间的夹角，通过激光测距测量每个点位与所述徕卡经纬仪之间的距离Y； S13、利用夹角和距离Y计算每个点位与90度平面之间的高度差Z； S2、依据高度差Z数据确定待测平台的最高点位，以最高点位为基准，利用徕卡经纬仪依次扫其他点位，并利用垫片的方式调整其他点位与最高点位等高，则由垫片和待测平台组成的新平面即为装调基准平面； S3、大面积平面镜的拼接； S31、在由垫片和待测平台组成的新平面上放置拼接框架，拼接框架的底部带有可调支点，将可调支点放置于各点位上，将平面镜放入拼接框架，在平面镜上表面放置等高块； S32、在等高块的上表面均匀设置至少三个复测点，再通过徕卡经纬仪依次扫描所有复测点，并通过调整可调支点的高度调整每块平面镜的安置角度，则完成大面积平面镜的拼接。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，其通讯地址为：130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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