中国科学院近代物理研究所徐治国获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院近代物理研究所申请的专利一种粒子治疗束流照射深度实时探测系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115920256B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211622303.8，技术领域涉及：A61N5/10；该发明授权一种粒子治疗束流照射深度实时探测系统及方法是由徐治国;李娟;胡正国;詹文龙;肖国青;陈玉聪;毛瑞士;赵铁成;赵祖龙设计研发完成，并于2022-12-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种粒子治疗束流照射深度实时探测系统及方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种粒子治疗束流照射深度实时探测系统及方法，粒子治疗束流照射深度实时探测系统包括位置灵敏电离室、剂量电离室及采集处理模块，其中位置灵敏电离室设置于患者靶区一侧且位于束流一侧，位置灵敏电离室用于测量患者靶区附近产生的辐射场强度，剂量电离室设置于等中心上游且垂直于束流入射方向，剂量电离室用于测量束流的强度，采集处理模块分别与位置灵敏电离室和剂量电离室电连接。与现有技术相比，本发明能够在监测束流强度的同时，实时测量离子束的照射深度，可以用于质子、碳离子治疗过程中照射深度的实时反馈，保护患者的正常器官安全，降低深度不确定性因素对治疗效果的影响。
本发明授权一种粒子治疗束流照射深度实时探测系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种粒子治疗束流照射深度实时探测系统，其特征在于，包括： 位置灵敏电离室1，所述位置灵敏电离室1设置于患者靶区3一侧且位于束流一侧，所述位置灵敏电离室1用于测量所述患者靶区3附近产生的辐射场强度； 剂量电离室2，所述剂量电离室2设置于等中心上游且垂直于束流入射方向，所述剂量电离室2用于测量所述束流的强度； 采集处理模块，所述采集处理模块分别与所述位置灵敏电离室1和所述剂量电离室2电连接； 所述采集处理模块对所述位置灵敏电离室1和剂量电离室2测量时所产生的信号进行采集转换并根据质子、碳离子治疗的照射深度在一定范围内与经过束流强度归一化的辐射场强度的线性关系实时计算出束流照射深度。
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