Document
拖动滑块完成拼图
个人中心

预订订单
商城订单
发布专利 发布成果 人才入驻 发布商标 发布需求

请提出您的宝贵建议,有机会获取IP积分或其他奖励

投诉建议

在线咨询

联系我们

龙图腾公众号
首页 专利交易 IP管家助手 科技果 科技人才 积分商城 国际服务 商标交易 会员权益 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索
当前位置 : 首页 > 专利喜报 > 中国科学院国家空间科学中心葛书岐获国家专利权

中国科学院国家空间科学中心葛书岐获国家专利权

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

龙图腾网获悉中国科学院国家空间科学中心申请的专利用于散射式近场扫描成像收发设计的二三维联合仿真方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115420705B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211053184.9,技术领域涉及:G01N21/3581;该发明授权用于散射式近场扫描成像收发设计的二三维联合仿真方法是由葛书岐;张德海;彭召敏设计研发完成,并于2022-08-31向国家知识产权局提交的专利申请。

用于散射式近场扫描成像收发设计的二三维联合仿真方法在说明书摘要公布了:本发明公开了用于散射式近场扫描成像收发设计的二三维联合仿真方法,该方法包括:基于镜像偶极子理论模型,建立三维模型,并根据剖面建立二维模型;分别在二维和三维模型中,通过改变针尖与样品间距离模拟针尖高频周期性运动,在有样品和无样品的情况下,得到近场电场强度及散射功率强度;在针尖曲率半径大于设定阈值时,在三维模型中,改变三维模型边长,得到不同光斑大小下的散射功率强度;在二维模型中,改变针尖曲率半径,得到不同针尖曲率半径下的近场电场强度;步骤s5在针尖曲率半径大于设定阈值时,根据得到的散射功率强度和近场电场强度,建立两者关系,得到在针尖曲率半径小于阈值时的散射功率强度。

本发明授权用于散射式近场扫描成像收发设计的二三维联合仿真方法在权利要求书中公布了:1.一种用于散射式近场扫描成像收发设计的二三维联合仿真方法,所述方法包括: 步骤s1基于镜像偶极子理论模型,建立三维模型,并根据三维模型剖面建立二维模型; 步骤s2分别在二维模型和三维模型中,通过改变针尖与样品间距离模拟针尖高频周期性运动,在有样品和无样品的情况下,得到近场电场强度及散射功率强度; 步骤s3在针尖曲率半径大于设定阈值时,在三维模型中,改变模拟入射光斑的三维模型边长,得到不同光斑大小下的散射功率强度; 步骤s4在二维模型中,改变针尖曲率半径,得到不同针尖曲率半径下的近场电场强度; 步骤s5在针尖曲率半径大于设定阈值时,根据步骤s3和步骤s4得到的散射功率强度和近场电场强度,建立两者之间关系,得到在针尖曲率半径小于阈值时的散射功率强度; 所述步骤s2具体包括: 通过改变针尖与样品间距离r,在[-A,A]中取N点来模拟针尖高频周期性运动,模拟实际散射式近场光学扫描系统,其中高频周期性运动满足下式: r=Acos2πΩt+φ+z+a 其中,Ω为针尖振动频率,A为针尖振动振幅,z为针尖与样品的初始距离,a为针尖曲率半径; 并记录在不同针尖与样品间距离r时,在有样品和无样品的情况下,在二维模型中对应点的近场电场强度以及在三维模型中对应散射面的散射功率强度; 所述步骤s5具体包括: 在针尖曲率半径大于设定阈值时,根据步骤s3和步骤s4得到的散射功率强度和近场电场强度,由坡印廷定理得到近场电场强度平方与功率强度呈正比关系,满足下式: 其中,P有样品和P无样品分别表示有样品功率强度和无样品功率强度,E有样品和E无样品分别表示有样品近场电场强度和无样品近场电场强度,k表示系数; 在针尖曲率半径小于设定阈值时,通过二维模型获得的近场电场强度由上述正比关系估算出三维模型的散射功率强度。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院国家空间科学中心,其通讯地址为:100190 北京市海淀区中关村南二条1号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。