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龙图腾网获悉中国科学院自动化研究所申请的专利融合成像参数进行量化分析的三维磁粒子成像系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115409945B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211064689.5，技术领域涉及：G06T17/00；该发明授权融合成像参数进行量化分析的三维磁粒子成像系统及方法是由田捷;张利文;申钰松;杨帆;惠辉;张鹏设计研发完成，并于2022-09-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本融合成像参数进行量化分析的三维磁粒子成像系统及方法在说明书摘要公布了：本发明属于磁粒子成像领域，具体涉及一种融合成像参数进行量化分析的三维磁粒子成像系统及方法、设备，旨在解决现有技术仅针对二维MPI重建图像质量分析研究，参数单一，且无法综合评估多种因素结合对重建图像的影响，导致重建的MPI三维重建图像质量差的问题。本系统包括：输入模块，配置为获取待成像重建物体的仿体模型以及MPI成像设备的成像参数、干扰参数；信号计算模块，配置为计算感应电压信号；重建模块，配置为基于感应电压信号，通过三维图像重建方法对待成像物体进行三维重建，得到MPI三维重建图像；输出模块，配置为将所述MPI三维重建图像进行输出。本发明提升了MPI三维重建图像重建的质量。

本发明授权融合成像参数进行量化分析的三维磁粒子成像系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种融合成像参数进行量化分析的三维磁粒子成像系统，其特征在于，该系统包括：输入模块、信号计算模块、重建模块、输出模块； 所述输入模块，配置为获取待成像重建物体的仿体模型以及MPI成像设备的成像参数、干扰参数；所述仿体模型为由体素构成的3D计算图像模型；所述成像参数包括MPI成像设备的硬件配置参数、磁粒子特性参数；所述干扰参数包括信号失真参数、噪声干扰参数、直接馈通参数； 所述信号计算模块，配置为将所述仿体模型的位置从自然坐标系转换到磁场坐标系中，将转换后的位置作为第一位置；结合所述第一位置、所述成像参数、所述干扰参数，计算感应电压信号，其方法为： 结合所述第一位置、所述磁粒子特性参数，计算粒子磁化强度；对所述粒子磁化强度进行求导，得到粒子信号； 获取弛豫时间，计算磁粒子的弛豫效应； 基于所述磁粒子的弛豫效应、所述直接馈通参数、所述噪声干扰参数，结合所述粒子信号，计算感应电压信号； 所述感应电压信号，其计算方法为： ft＝k0t ub＝γnsin2πnft，n0 其中，ut表示感应电压信号，K表示磁导率、磁矩模长常数项乘积，M′表示磁化强度的导数，ft表示MPI成像设备磁热效应对产生电压型号的影响，具体需根据MPI成像设备进行提前测量确定，k0表示磁热比例系数，根据激励磁场强度进行设置，ω用于控制磁热效应对电压信号的影响，α用于控制和评估加入噪声对电压信号的影响，β用于定量评估直接馈通的影响，Tt表示磁粒子的弛豫效应，ub表示直接馈通参数，unoise表示噪声干扰参数，τ表示弛豫时间，δ表示Heaviside函数，γn表示扰动幅值，f表示磁场频率，n表示自然正整数； 所述重建模块，配置为基于所述感应电压信号，通过三维图像重建方法对所述待成像重建物体进行三维重建，进而得到所述待成像重建物体的MPI三维重建图像； 所述输出模块，配置为将所述MPI三维重建图像进行输出。

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