美光科技公司李贤义获国家专利权
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龙图腾网获悉美光科技公司申请的专利输出阻抗校准以及相关的装置、系统和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115240747B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210070192.8，技术领域涉及：G11C29/02；该发明授权输出阻抗校准以及相关的装置、系统和方法是由李贤义;山崎正义设计研发完成，并于2022-01-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本输出阻抗校准以及相关的装置、系统和方法在说明书摘要公布了：公开了输出阻抗校准以及相关的装置、系统和方法。一种装置可包含ZQ校准电路。所述ZQ校准电路可包含经配置以存储响应于ZQ校准命令而生成的第一阻抗校准代码的第一寄存器。所述ZQ校准电路还可包含经配置以存储移位值的第二寄存器。另外，所述ZQ校准电路可包含经配置以基于所述第一阻抗校准代码和所述移位值而生成第二阻抗校准代码的计算块。
本发明授权输出阻抗校准以及相关的装置、系统和方法在权利要求书中公布了：1.一种装置，其包括： ZQ校准电路，其包含： 第一寄存器，其经配置以存储响应于ZQ校准命令而生成的第一阻抗校准代码； 第二寄存器，其经配置以存储移位值，所述移位值指示所述第一阻抗校准代码与第四阻抗校准代码之间的差值；以及 计算块，其经配置以基于第三阻抗校准代码和所述移位值而生成第二阻抗校准代码， 其中所述第一阻抗校准代码是在所述装置的通电模式期间确定的，且所述第三阻抗校准代码是在所述装置的操作模式期间确定的。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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