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龙图腾网获悉武汉君赢融合信息技术有限公司申请的专利一种基于线扫光谱共聚焦相机的缺陷检测算法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115222730B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211054237.9，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于线扫光谱共聚焦相机的缺陷检测算法是由邓晗;左星;梁泽成设计研发完成，并于2022-08-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于线扫光谱共聚焦相机的缺陷检测算法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于线扫光谱共聚焦相机的缺陷检测算法，包括如下步骤：S1、通过线扫光谱共聚焦相机采集被测物体表面的点云数据；S2、根据点云数据来拟合标准平面模板；S3、将点云数据与步骤S2中得到的标准平面模板对比，计算每个点的绝对差值；S4、根据步骤S3中计算得到的绝对差值进行阈值判断，若所有点的绝对差值均不大于预设阈值，则判定被测物体表面不存在缺陷，若存在绝对插值大于预设阈值的点，则判定被测物体表面存在缺陷。本发明使用线扫光谱共聚焦来采集被测物体表面的信息，可以很好的获取深度信息，进而更加准确判断是否为缺陷和缺陷类型，具有很好的检出效果，且具有很好的实时性，可以满足生产线上的检测需求。

本发明授权一种基于线扫光谱共聚焦相机的缺陷检测算法在权利要求书中公布了：1.一种基于线扫光谱共聚焦相机的缺陷检测算法，其特征在于，包括如下步骤： S1、通过线扫光谱共聚焦相机采集被测物体表面的点云数据； S2、根据点云数据来拟合标准平面模板； S3、将点云数据与步骤S2中得到的标准平面模板对比，计算每个点的绝对差值； S4、根据步骤S3中计算得到的绝对差值进行阈值判断，若所有点的绝对差值均不大于预设阈值，则判定被测物体表面不存在缺陷，若存在绝对插值大于预设阈值的点，则判定被测物体表面存在缺陷； 在步骤S1后，步骤S2前，还包括如下步骤： S1’、对步骤S1中采集的点云数据进行重构； 并且，后续步骤中，所采用的点云数据均为步骤S1’中重构后的点云数据； 步骤S1’中，对点云数据进行重构的步骤具体包括： 由于点云数据通过线扫光谱共聚焦相机采集得到，故将点云数据表示为线集的形式： ； 分别指线集中的每一条线，对于其中的任意一条线，由若干个点组成，故将其表示为点集的形式： ； 分别指点集中的每一个点； 对于任意两条相邻的线和，通过下式求出补偿值： ； 其中，表示求中值； 然后根据下式得到补偿后的线： 最终得到重构后的点云数据'： 。

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