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龙图腾网获悉恩德斯+豪斯流量技术股份有限公司申请的专利用于测量流体测量介质的质量流量的振动测量系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114761763B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080084672.9，技术领域涉及：G01F1/84；该发明授权用于测量流体测量介质的质量流量的振动测量系统是由阿尔弗雷德·里德;罗伯特·拉拉;马塞尔·布朗;恩尼奥·比托;约翰·波尔设计研发完成，并于2020-11-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于测量流体测量介质的质量流量的振动测量系统在说明书摘要公布了：测量系统包括振动型测量传感器、用于测量传感器的传感器外壳100、用于感测在测量系统内部建立的磁场H0+H1的磁场检测器61和测量系统电子器件ME，测量系统电子器件ME电耦合到振荡激励器和测量传感器的振荡感测设备这两者，测量传感器位于传感器外壳100内部，而磁场检测器位于传感器外壳外部。测量系统电子器件ME被设计成通过电驱动信号e1将电能馈入振荡激励器中，从而使测量换能器的振动元件以指定的振荡频率执行强制机械振荡。此外，磁场检测器被设计用于将磁场的变化转换为磁场信号φ1，其幅度U3取决于通过磁场检测器的磁通量φ3和或取决于所述磁通量φ3的面积密度B3。测量系统电子器件被设计成基于测量传感器的振荡测量信号s1，s2来确定表示质量流量的质量流量测量值，并且基于磁场信号至少定性地确定在测量传感器内部是否建立了外部磁场H1。

本发明授权用于测量流体测量介质的质量流量的振动测量系统在权利要求书中公布了：1.一种振动测量系统，用于测量流体测量介质的质量流量，所述测量系统包括： -测量传感器MW， --所述测量传感器具有至少一个振动元件10，用于激励和维持至少一个振动元件10的机械振荡，至少一个振荡激励器，用于感测所述至少一个振动元件的机械振荡，电动第一振动传感器51和至少一个电动第二振动传感器52，以及 --所述测量传感器被配置为引导所述测量介质，即至少间歇性地被所述测量介质流过； -用于所述测量传感器的传感器外壳100； -至少一个第一磁场检测器61，所述第一磁场检测器61用于感测在所述测量系统内部建立的磁场H0，H1； -以及，测量系统电子器件ME，所述测量系统电子器件ME电耦合到所述测量传感器，即其至少一个振荡激励器及其第一振动传感器和第二振动传感器，并且电耦合到所述第一磁场检测器61； -其中，所述测量传感器定位在所述传感器外壳100内部，并且所述第一磁场检测器定位在所述传感器外壳100外部； -其中，所述至少一个振动元件被配置为与待测的流动物质接触并且同时振动； -其中，所述至少一个振荡激励器被配置为将馈送到所述振荡激励器的电能转换成引起所述振动元件的强制机械振荡的机械能； -其中，所述测量系统电子器件被配置为生成电驱动信号e1，并且通过所述驱动信号将电能馈送到所述至少一个振荡激励器中，使得所述振动元件执行至少成比例的有用振动，即在至少一个有用频率上的强制机械振荡，即由所述电驱动信号指定的振荡频率，所述有用振动适合在流动的测量介质中引起取决于所述质量流量的科里奥利力； -其中，所述第一振动传感器51被配置为将所述至少一个振动元件在第一测量点的振动运动转换成所述测量传感器的电第一振荡测量信号s1，使得所述第一振荡测量信号具有至少一个第一有用分量s1N1，即交流电压分量 --所述交流电压分量在与所述有用频率相对应的频率上， --并且所述交流电压分量的幅度U1N取决于所述有用频率和第一磁通量Ф1，即通过所述第一振动传感器51的磁通量； --其中，所述第二振动传感器52被配置为将所述至少一个振动元件在远离所述第一测量点的第二测量点处的振动运动转换成所述测量传感器的电第二振荡测量信号，使得所述第二振荡测量信号具有至少一个第二有用分量s2N1，即交流电压分量 --所述交流电压分量在与所述有用频率相对应的频率上， ---并且所述交流电压分量的幅度取决于所述有用频率和第二磁通量Ф2，即通过所述第二振动传感器52的磁通量； -其中，所述第一磁场检测器61被配置为在位于所述传感器外壳100外部的第三测量点处感测所述磁场H1并且将其转换成第一磁场信号φ1，并且所述第一磁场信号φ1的幅度U3取决于第三磁通量Ф3，即通过所述第一磁场检测器的磁通量，和或取决于所述磁通量Ф3的面积密度B3； -并且其中，所述测量系统电子器件20被配置成接收和评估所述第一振荡测量信号和所述第二振荡测量信号这两者以及至少所述第一磁场信号φ1，即 --基于所述第一振荡测量信号和所述第二振荡测量信号来确定表示所述质量流量的质量流量测量值， --并且，基于所述第一磁场信号，至少定性地确定所述磁场H1是否和或在何种程度上被建立在所述第一测量点和或所述第二测量点，或有助于所述第一磁通量Ф1和或所述第二磁通量Ф2，和或确定是否存在由所述磁场H1对于所述测量系统的干扰。

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