中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))张战刚获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利电子器件的软错误评估方法、装置和计算机设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114662373B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210137442.5，技术领域涉及：G06F30/25；该发明授权电子器件的软错误评估方法、装置和计算机设备是由张战刚;黄云;雷志锋;彭超;何玉娟;肖庆中;路国光;来萍设计研发完成，并于2022-02-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本电子器件的软错误评估方法、装置和计算机设备在说明书摘要公布了：本申请涉及一种电子器件的软错误评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取将面源通过降能片组合照射电子器件的情况下，所述电子器件的单粒子翻转截面值组合；通过对体源照射电子器件的情形进行仿真，获得表面粒子通量组合，所述表面粒子通量组合与将面源通过降能片组合照射电子器件的情况下，获得的所述单粒子翻转截面值组合对应；基于所述单粒子翻转截面值组合和所述表面粒子通量组合，确定所述电子器件的软错误率。采用本方法能够提高电子器件的软错误率的评估精度。
本发明授权电子器件的软错误评估方法、装置和计算机设备在权利要求书中公布了：1.一种电子器件的软错误评估方法，其特征在于，所述方法包括： 获取将面源通过降能片组合照射电子器件的情况下，所述电子器件的单粒子翻转截面值组合；所述单粒子翻转截面值组合包括不同厚度的降能片所对应的单粒子翻转截面值； 通过对体源照射电子器件的情形进行仿真，获得表面粒子通量组合，所述表面粒子通量组合与将面源通过降能片组合照射电子器件的情况下，获得的所述单粒子翻转截面值组合对应；所述表面粒子通量组合包括不同体源厚度的表面粒子通量；所述体源厚度和所述降能片的厚度对应；所述单粒子翻转截面值组合中的单粒子翻转截面值和所述表面粒子通量组合中的表面粒子通量，通过降能片的厚度和体源厚度进行对应； 基于所述单粒子翻转截面值组合和所述表面粒子通量组合，确定所述电子器件的软错误率。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))，其通讯地址为：511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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