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龙图腾网获悉深圳明锐理想科技有限公司申请的专利一种X射线装置多轴重复精度测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114624266B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111664684.1，技术领域涉及：G01N23/046；该发明授权一种X射线装置多轴重复精度测试方法是由胡成;王雪晴;吴生飞;冯经纬设计研发完成，并于2021-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种X射线装置多轴重复精度测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及工业CT应用领域，特别涉及一种CT图像重建领域。利用特定的测试物，使得X射线装置能够清晰的采集到测试物投影图像，把该图像作为标准图像；然后移动4个轴到随机的位置，然后返回该位置，再采集投影图像用于计算相对标准图像的残差图。为了衡量该残差图对应的偏移值，我们针对每个轴预先计算一组标准的偏移残差图，然后通过图像对比，能够分析识别出1um级别的偏差，足以满足CT图像重建对重复精度的要求。

本发明授权一种X射线装置多轴重复精度测试方法在权利要求书中公布了：1.一种X射线装置的多轴重复精度测试方法，其特征在于，包括： 步骤一：探测设备位于第一位置时，采集测试物体的标准投影图，并进行平场校正； 步骤二：在探测设备移动至随机坐标位置并返回所述第一位置时，采集测试物体的随机投影图；所述测试物体为钨丝冶具； 步骤三：计算所述随机投影图相对于标准投影图的残差图，并进行归一化处理； 步骤四：将所述残差图与用于提供标准偏移值的标准残差图组进行图像对比，获取所述探测设备的X、Y轴的偏移量； 步骤五：循环所述步骤一至步骤五N次，获得N个所述偏移量； 步骤六：确定N个所述偏移量之中的最大值为所述探测设备的重复精度测试结果； 所述标准残差图组通过如下方法获取： 步骤A：探测设备位于第一位置时，采集测试物体的标准投影图，并进行平场校正； 步骤B：移动所述探测设备，沿预设方向移动预设距离； 步骤C：采集所述探测设备当前状态下的偏移投影图，进行平场校正； 步骤D：计算所述偏移投影图相对标准投影图的残差图； 步骤E：对所述残差图进行归一化处理，并与对应移动轴偏移值建立对应关系； 步骤F：循环步骤B至步骤E，直至满足预设条件，并获得N个偏移值以及对应的残差图； 步骤G：收集所述偏移值以及对应残差图，生成标准偏移值残差图组文件。

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