买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉中国石油天然气股份有限公司申请的专利勘探区带量化分类排序方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114594924B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011403827.9，技术领域涉及：G06F7/08；该发明授权勘探区带量化分类排序方法及系统是由陈彬滔;杨丽莎;王磊;史忠生;薛罗;马轮;史江龙设计研发完成，并于2020-12-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本勘探区带量化分类排序方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种勘探区带量化分类排序方法及系统，该方法包括：获取各勘探区带各自对应的烃源岩数据、储集层数据以及盖层数据；根据所述烃源岩数据确定各勘探区带各自对应的油源指数；根据所述储集层数据确定各勘探区带各自对应的储层指数；根据所述盖层数据确定各勘探区带各自对应的盖层指数；根据所述油源指数、所述储层指数以及所述盖层指数确定各勘探区带各自对应的预设分类；根据各预设分类对应的排序信息以及各勘探区带各自对应的油源指数、储层指数以及盖层指数对各勘探区带进行排序。本发明基于烃源岩数据、储集层数据以及盖层数据对勘探区带进行量化分类和排序，进而提高勘探区带分类与排序结果的准确性，提升勘探部署的成效。

本发明授权勘探区带量化分类排序方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种勘探区带量化分类排序方法，其特征在于，包括： 获取各勘探区带各自对应的烃源岩数据、储集层数据以及盖层数据； 根据所述烃源岩数据确定各勘探区带各自对应的油源指数，所述烃源岩数据包括：勘探区带内烃源岩平均厚度、盆地主要生烃凹陷烃源岩平均厚度、勘探区带供烃凹陷的烃源岩厚度零值点到烃源岩厚度最大值点之间的最大距离以及勘探区带外缘与烃源岩厚度最大值点之间的最大距离；通过以下计算公式计算油源指数：IO＝IOt×IOd；IOt＝TopTor；Iod＝DorDop；其中，IO为油源指数、IOt为油源厚度指数、IOd为油源距离指数、Top为勘探区带内烃源岩平均厚度、Tor为盆地主要生烃凹陷烃源岩平均厚度、Dor为勘探区带供烃凹陷的烃源岩厚度零值点到烃源岩厚度最大值点之间的最大距离、Dop为勘探区带外缘与烃源岩厚度最大值点之间的最大距离； 根据所述储集层数据确定各勘探区带各自对应的储层指数，所述储集层数据包括：勘探区带内储层平均厚度、盆地内储层平均厚度、勘探区带所处沉积相带的轴向距离以及勘探区带中间点至沉积相带近物源边缘点的距离；通过以下计算公式计算储层指数：IR＝IRt×IRd；IRt＝TrpTrr；IRd＝12×Drr-|Drp-12×Drr|12×Drr；其中，IR为储层指数、IRt为储层厚度指数、IRd为储层距离指数、Trp为勘探区带内储层平均厚度、Trr为盆地内储层平均厚度、Drr为勘探区带所处沉积相带的轴向距离、Drp为勘探区带中间点至沉积相带近物源边缘点的距离； 根据所述盖层数据确定各勘探区带各自对应的盖层指数，所述盖层数据包括：勘探区带内盖层平均厚度、盆地内盖层平均厚度、勘探区带盖层层段内具有封盖能力的岩性厚度以及盖层层段总厚度；通过以下计算公式计算盖层指数：IC＝ICt×ICl；ICt＝TcpTcr；ICl＝DclDcp；其中，IC为盖层指数、ICt为盖层厚度指数、ICl为盖层岩性指数、Tcp为勘探区带内盖层平均厚度、Tcr为盆地内盖层平均厚度、Dcl为勘探区带盖层层段内具有封盖能力的岩性厚度、Dcp为盖层层段总厚度； 根据所述油源指数、所述储层指数以及所述盖层指数确定各勘探区带各自对应的预设分类，所述预设分类包括：证实勘探区带、潜在勘探区带、推测勘探区带以及无效勘探区带； 根据各预设分类对应的排序信息以及各勘探区带各自对应的油源指数、储层指数以及盖层指数对各勘探区带进行排序； 所述根据各预设分类对应的排序信息以及各勘探区带各自对应的油源指数、储层指数以及盖层指数对各勘探区带进行排序，包括： 根据各预设分类对应的排序信息对各勘探区带进行排序，其中，各所述预设分类的排序从前至后依次为证实勘探区带、潜在勘探区带、推测勘探区带、无效勘探区带； 根据每个勘探区带各自对应的油源指数、储层指数以及盖层指数计算出每个勘探区带各自对应的潜力指数，根据所述潜力指数对每个预设分类中的各勘探区带进行排序。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国石油天然气股份有限公司，其通讯地址为：100007 北京市东城区东直门北大街9号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。