新加坡国立大学周光亚获国家专利权
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龙图腾网获悉新加坡国立大学申请的专利检测电磁(EM)波谱的光谱仪和方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114072642B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202080049682.9,技术领域涉及:G01J3/04;该发明授权检测电磁(EM)波谱的光谱仪和方法是由周光亚设计研发完成,并于2020-08-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本检测电磁(EM)波谱的光谱仪和方法在说明书摘要公布了:一种用于检测在感兴趣的光谱带内具有一个或多个波长分量的电磁EM波谱的光谱仪,以及一种在感兴趣的光谱带内检测具有一个或多个波长分量的电磁EM波谱的方法。该方法使用入射孔;包含至少一个色散元件的色散和成像光学器件;出射孔;收集光学器件;以及至少一个单像素检测器,每个单像素检测器对一个或多个波长分量敏感。该方法包括以下步骤:沿大体横向于色散和成像光学器件的色散方向的方向对入射孔的至少一个入射狭缝进行空间编码;使用色散和成像光学器件,在出射孔的平面上创建入射孔的色散图像,使得不同波长分量的各个图像沿着色散方向偏移不同的位移量;沿大体横向于色散方向的方向对出射孔的多个出射狭缝进行空间编码,其中出射孔包括沿着色散方向布置的多个出射狭缝;使用收集光学器件收集进入入射孔和离开出射孔到至少一个单像素检测器之一的总电磁波能量;多次改变至少一个入射狭缝的编码图案与多个出射狭缝的编码图案中的至少一者;并且针对重构电磁波谱的次数中的相应次数测量至少一个检测器的输出。
本发明授权检测电磁(EM)波谱的光谱仪和方法在权利要求书中公布了:1.一种用于检测在感兴趣的光谱带内具有一个或多个波长分量的电磁波谱的光谱仪,包括: 入射孔; 包含至少一个色散元件的色散和成像光学器件; 出射孔; 收集光学器件;和 至少一个单像素检测器,每个单像素检测器对一个或多个所述波长分量敏感; 其中,所述入射孔包括至少一个入射狭缝,所述至少一个入射狭缝沿大体横向于所述色散和成像光学器件的色散方向的方向被空间编码; 其中,所述色散和成像光学器件被配置为在所述出射孔的平面上创建所述入射孔的色散图像,使得不同波长分量处的各个图像沿着所述色散方向偏移不同的位移量; 其中,所述出射孔包括沿着所述色散方向布置的多个出射狭缝,其中每个出射狭缝沿大体横向于所述色散方向的所述方向被空间编码; 其中,所述收集光学器件被配置为收集进入所述入射孔和离开所述出射孔到所述至少一个单像素检测器之一的总电磁波能量; 其中,所述至少一个入射狭缝的编码图案和所述多个出射狭缝的编码图案中的至少一者是可调节的并且被配置为被多次改变; 所述光谱仪进一步包括测量单元,所述测量单元被配置为针对重构电磁波谱的次数中的相应次数测量所述至少一个单像素检测器的输出;并且 其中,所述光谱仪被配置为使得单个入射狭缝在单个波长分量上的图像宽度小于所述光谱仪在所述出射孔处的光斑尺寸,从而使得所述光谱仪的光谱分辨率与所述入射孔中所包含的单个入射狭缝的数量无关。
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