中国科学院上海光学精密机械研究所张军勇获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院上海光学精密机械研究所申请的专利基于双焦光子筛的径向剪切干涉仪获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113252190B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010084951.7，技术领域涉及：G01J9/02；该发明授权基于双焦光子筛的径向剪切干涉仪是由张军勇;李垚村设计研发完成，并于2020-02-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于双焦光子筛的径向剪切干涉仪在说明书摘要公布了：一种基于双焦光子筛的径向剪切干涉仪，包括两个全同的双焦光子筛、图像探测器和计算机，所述的两个双焦光子筛的焦点相互对应，生成两套4f系统，使得入射的待测波面被分成两束大小不同的波面在图像探测器上发生剪切干涉，所述的计算机从图像探测器接收的干涉图中可以提取出剪切相位差，能够获得光束中携带的相位信息。本发明具有结构简单、对实验环境要求低和抗干扰能力强的特点，可应用于波前检测、干涉成像和自适应光学等诸多领域。
本发明授权基于双焦光子筛的径向剪切干涉仪在权利要求书中公布了：1.一种基于双焦光子筛的径向剪切干涉仪，其特征在于，包括第一双焦光子筛1、第二双焦光子筛2、图像探测器3和计算机4；沿待测波前0的输入方向依次是所述的第一双焦光子筛1、第二双焦光子筛2、图像探测器3，所述图像探测器3的输出端与所述的计算机4的输入端相连，所述的第一双焦光子筛1和第二双焦光子筛2完全相同，其两个焦距分别为f1和f2；待测激光束入射到第一双焦光子筛1后发生衍射，形成两束汇聚球面波，第一束汇聚光波的艾里斑位于第一双焦光子筛1后f1处，同时也是第二双焦光子筛2前f2处，第二束汇聚光波的艾里斑位于第一双焦光子筛1后f2处，同时也是第二双焦光子筛2前f1处，两个双焦光子筛形成两套4f系统，使得两束球面光波由第二双焦光子筛2出射后变为两束大小不同的平面波，两束平面光波在所述的图像探测器3上发生剪切干涉，形成干涉图像，该干涉图像输入所述的计算机4。
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