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中山大学;中国科学院高能物理研究所;清华大学黄英峻获国家专利权

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龙图腾网获悉中山大学;中国科学院高能物理研究所;清华大学申请的专利一种抗辐照性能检测系统获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223485780U

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202422540401.8,技术领域涉及:G01N17/00;该实用新型一种抗辐照性能检测系统是由黄英峻;王书栋;李晖;刘洋;史欣;刘佩莲;刘华宇设计研发完成,并于2024-10-21向国家知识产权局提交的专利申请。

一种抗辐照性能检测系统在说明书摘要公布了:本实用新型公开了一种抗辐照性能检测系统,包括:辐照设备和低温低湿试验装置;辐照设备,用于向样品发射高能量质子束流;低温低湿试验装置包括实验箱、降温模块和降湿模块;降温模块由双层半导体制冷片、水冷头、L型石墨片和冷水机构成;双层半导体制冷片的冷端与L型石墨片相接触,样品粘附于L型石墨片上;双层半导体制冷片的热端与水冷头相接触;冷水机用于为水冷头提供冷水;降湿模块包括空压机和干燥机,用于降低实验箱内的空气湿度。在本实用新型中,通过双层半导体制冷片制冷同时采用水冷散热以达到更好的降温效果;通过降湿模块产生干燥空气以降低实验箱内的湿度,进而为样品提供了一个低温低湿的实验环境。

本实用新型一种抗辐照性能检测系统在权利要求书中公布了:1.一种抗辐照性能检测系统,其特征在于,包括:辐照设备和低温低湿试验装置; 辐照设备,用于向样品发射高能量质子束流; 低温低湿试验装置包括实验箱、降温模块和降湿模块; 所述降温模块穿设于所述实验箱上;所述降温模块由双层半导体制冷片、水冷头、L型石墨片和冷水机构成; 所述双层半导体制冷片的冷端与所述L型石墨片相接触,所述样品粘附于所述L型石墨片上;所述双层半导体制冷片的热端与所述水冷头相接触;所述冷水机用于为所述水冷头提供冷水; 所述降湿模块包括空压机和干燥机,用于降低实验箱内的空气湿度。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中山大学;中国科学院高能物理研究所;清华大学,其通讯地址为:510275 广东省广州市海珠区新港西路135号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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