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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所周满获国家专利权

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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种用于光学元件的立式干涉检测装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120702326B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511135814.0,技术领域涉及:G01B9/02;该发明授权一种用于光学元件的立式干涉检测装置是由周满;胡海翔;罗霄;戚二辉;李明茁;郭乃泉;张学军设计研发完成,并于2025-08-14向国家知识产权局提交的专利申请。

一种用于光学元件的立式干涉检测装置在说明书摘要公布了:本发明公开了一种用于光学元件的立式干涉检测装置,涉及光学元件检测技术领域,包括支架,连接于隔振模块之间,支架设置有顶板和底板;驱动单元设置于支架上,上载物台和下载物台均对应连接于驱动单元上;上载物台和下载物台上均设有托盘,移动单元,上载物台和下载物台均设置有移动单元;上光学系统设置于顶板的上表面,上二维调整架设置于顶板的下表面;下光学系统设置于底板的下表面,下二维调整架设置于底板的上表面,上二维调整架和下二维调整架均用于放置标准镜。上述一种用于光学元件的立式干涉检测装置,解决了现有立式干涉检测装置无法同时实现立式向上检测和立式向下检测的技术问题。

本发明授权一种用于光学元件的立式干涉检测装置在权利要求书中公布了:1.一种用于光学元件的立式干涉检测装置,其特征在于,包括: 隔振模块1,其间隔相对设置; 支架2,连接于所述隔振模块1之间,所述支架2上下两端对应设置有第一顶板3和第一底板4; 驱动单元,设置于所述支架2上; 上载物台5和下载物台6,所述上载物台5和所述下载物台6均对应连接于所述驱动单元上,所述驱动单元对应实现所述上载物台5和所述下载物台6Z向移动及Rx、Ry倾角调整;所述上载物台5和所述下载物台6上均设有托盘,所述托盘用于放置光学元件; 移动单元,所述上载物台5和所述下载物台6均设置有所述移动单元,所述移动单元实现所述托盘X向、Y向平移及Z轴旋转; 上光学系统7、上二维调整架8,所述上光学系统7设置于所述第一顶板3的上表面,所述上二维调整架8设置于所述第一顶板3的下表面; 下光学系统9、下二维调整架10,所述下光学系统9设置于所述第一底板4的下表面,所述下二维调整架10设置于所述第一底板4的上表面,所述上二维调整架8和所述下二维调整架10均用于放置标准镜。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,其通讯地址为:130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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