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中国人民解放军海军工程大学王亮获国家专利权

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龙图腾网获悉中国人民解放军海军工程大学申请的专利强光元件损伤监测方法、系统、存储介质及计算机程序产品获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120558531B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511054645.8,技术领域涉及:G01M11/02;该发明授权强光元件损伤监测方法、系统、存储介质及计算机程序产品是由王亮;曾雅琴;张赫天;梁伟阁;陈展鹏;孙世岩;周仁来设计研发完成,并于2025-07-30向国家知识产权局提交的专利申请。

强光元件损伤监测方法、系统、存储介质及计算机程序产品在说明书摘要公布了:本申请公开了一种强光元件损伤监测方法、系统、存储介质及计算机程序产品,涉及高能激光技术领域,所述方法包括:启动激光器对待监测强光元件进行辐照,并通过数据采集模块采集辐照过程中所述待监测强光元件的元件温度、光斑功率以及光斑图像;根据所述元件温度、所述光斑功率以及所述光斑图像生成光斑分析图、温度空间分布图、温度功率时间分布图;基于所述光斑分析图、所述温度空间分布图、所述温度功率时间分布图对所述待监测强光元件进行损伤监测。通过同时采集多种参数,从不同角度全面反映了强光元件在激光辐照下的状态,避免了单一参数监测可能导致的误判或漏判,从而提升了监测的全面性和准确性。

本发明授权强光元件损伤监测方法、系统、存储介质及计算机程序产品在权利要求书中公布了:1.一种强光元件损伤监测方法,应用于强光元件损伤监测系统,其特征在于,所述强光元件损伤监测系统包括激光器、数据采集模块、数据分析模块,所述强光元件损伤监测方法包括: 启动激光器对待监测强光元件进行辐照,并通过数据采集模块采集辐照过程中所述待监测强光元件的元件温度、光斑功率以及光斑图像; 根据所述元件温度、所述光斑功率以及所述光斑图像生成光斑分析图、温度空间分布图、温度功率时间分布图; 基于所述光斑分析图、所述温度空间分布图、所述温度功率时间分布图对所述待监测强光元件进行损伤监测,该步骤包括: 基于椭圆拟合算法计算所述光斑分析图中的光斑形变程度,并分析所述温度空间分布图中高温区域与所述光斑分析图中光斑位置的匹配度; 综合所述光斑形变程度、所述匹配度、所述温度功率时间分布图的斜率变化进行多参数协同分析,分析所述待监测强光元件的整体性能状态; 其中,所述椭圆拟合算法通过拟合所述光斑分析图中的光斑图像的边缘像素点到一个椭圆模型,量化所述光斑图像的形状特征; 所述分析所述温度空间分布图中高温区域与所述光斑分析图中光斑位置的匹配度的步骤包括:将所述温度空间分布图中的高温区域与所述光斑分析图中的光斑中心坐标进行空间匹配,计算所述高温区域的质心与所述光斑中心的偏移距离。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国人民解放军海军工程大学,其通讯地址为:430000 湖北省武汉市硚口区解放大道717号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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