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龙图腾网获悉广东长兴半导体科技有限公司申请的专利一种全自动芯片高效测试设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119596107B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411742023.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种全自动芯片高效测试设备是由张治强;杨师;苏允康;郭东林设计研发完成，并于2024-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种全自动芯片高效测试设备在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种全自动芯片高效测试设备，包括机台；机台设有多个测试模块；测试模块包括底座以及测试台；测试台沿周面方向依次设有第一平面、第二平面、第三平面以及第四平面；第一平面、第二平面以及第三平面均设有测试板；测试板设有多个测试座；测试座设有夹持组件；底座设有用于驱动夹持组件打开的驱动组件。本发明通过在机台上设置多个测试模块，每个测试模块中均设置有测试台，并且测试台设置有第一平面、第二平面以及第三平面，第一平面、第二平面以及第三平面均设置有测试板，使得测试台能够通过夹持组件放置多个芯片，通过这种多面装有测试板的方式，极大提高了空间利用率和大大地提高了测试效率。

本发明授权一种全自动芯片高效测试设备在权利要求书中公布了：1.一种全自动芯片高效测试设备，其特征在于：包括机台；所述机台设有多个测试模块；所述测试模块包括设于机台的底座以及转动设于底座的测试台；所述测试台沿周面方向依次设有第一平面、第二平面、第三平面以及第四平面；所述第一平面、第二平面以及第三平面均设有测试板；所述测试板设有多个测试座；所述测试座设有夹持组件；所述底座设有用于驱动夹持组件打开的驱动组件； 所述夹持组件包括活动座以及抵压块；所述活动座升降活动设于测试座的顶部；所述测试座的中部设有测试槽；所述活动座设有测试开口；所述测试槽显露于测试开口；所述测试座在测试槽的两侧均翻转设置有抵压块；所述活动座用于驱动抵压块翻转； 所述驱动组件包括升降活动设于测试台顶部的压板以及设于底座的驱动气缸；所述压板贯穿设有多个穿孔；所述穿孔与测试开口对应设置；所述驱动气缸的输出端与压板连接； 所述测试座与活动座之间设有复位弹簧；所述抵压块的一端设有控制部；所述抵压块的另一端设有压合部；所述抵压块的中部设有定位部； 所述定位部与测试座铰接；所述压合部凸伸入测试槽；所述控制部设有条形槽；所述活动座设有铰接块；所述铰接块与条形槽活动铰接； 所述测试台内设有布线通道；所述测试板与布线通道连通；所述底座设有中空旋转平台；所述中空旋转平台的输出端与测试台连接；所述中空旋转平台与布线通道连通； 所述底座的底部设有支撑气缸；所述支撑气缸的输出端设有支撑块；所述第一平面、第二平面以及第三平面均设有用于与支撑块抵靠的让位槽。

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