电子科技大学杨伟获国家专利权
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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利基于体元法的箔条云团电磁散射计算方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119578095B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411725382.4,技术领域涉及:G06F30/20;该发明授权基于体元法的箔条云团电磁散射计算方法是由杨伟;卓芝慧;赵士领;邓文杰;郑雪峰;苏思帆;方昊;雷世文;胡皓全;田径;陈波;何子远设计研发完成,并于2024-11-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于体元法的箔条云团电磁散射计算方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于体元法的箔条云团电磁散射计算方法,属于箔条电磁散射技术领域。本发明方法通过将三维箔条云团分割成多个体元区域,并计算每个区域的散射场值,然后结合区域间的遮挡效应和衰减系数,得到整个箔条云团的实际散射场值。本发明所提方法能够更准确地模拟箔条云团在电磁波照射下的电磁散射特性,对于电子对抗等领域具有重要的应用价值。
本发明授权基于体元法的箔条云团电磁散射计算方法在权利要求书中公布了:1.基于体元法的箔条云团电磁散射计算方法,其特征在于,包括下列步骤: 步骤1,构建单位体积内不同箔条浓度与散射场统计值一一对应的箔条浓度散射场映射表; 步骤2,采用体元分割法将箔条云团模型均匀分割为多个体元,统计每个体元区域内的箔条数量,基于根箔条浓度的累计值得到体元的箔条浓度; 在箔条浓度散射场映射表内找对应每个体元的箔条浓度的散射场统计值,并将乘以体元的体积得到单个体元的散射场; 步骤3,设置每个体元的衰减系数,该衰减系数与电磁波来波方向上入射到当前体元的路径深度正相关; 步骤4,将每个体元的散射场与衰减系数相乘得到每个体元的实际散射场; 步骤5,基于箔条云团模型的所有体元的实际散射场的累加和得到箔条云团的散射总场值; 其中,步骤1中,在构建箔条浓度散射场映射表时,通过离散仿真出若干个指定箔条浓度的散射场统计值,再通过线性插值法获取任意箔条浓度下的散射场统计值,以构建箔条浓度散射场映射表;其中,箔条浓度基于单个箔条云团包括的箔条数量表征; 单位体积内的散射场统计值具体设置为: 以第根箔条在指定的散射方向的散射电场作为其散射电场,其中,具体设置为: 其中,为每根箔条在雷达入射波电场强度下的电流最大值,为第根箔条的中心位置,为散射电场方向与箔条之间的夹角,为波数,为半波振子长度,为方向的单位向量,为虚数单位,为自然底数; 基于单位体积内的所有箔条的散射电场的累加和得到散射场统计值。
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