新华三半导体技术有限公司代西果获国家专利权
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龙图腾网获悉新华三半导体技术有限公司申请的专利一种SerDes芯片的筛选方法、装置及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116740012B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310682320.9，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种SerDes芯片的筛选方法、装置及电子设备是由代西果设计研发完成，并于2023-06-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种SerDes芯片的筛选方法、装置及电子设备在说明书摘要公布了：本发明实施例提供了一种SerDes芯片的筛选方法、装置及电子设备，方法包括：基于预先确定的误码边界轮廓的目标坐标点，获取SerDes芯片对应的数字眼图中目标坐标点的误码率；误码边界轮廓是预先根据合格SerDes芯片对应的数字眼图中误码率为零的边界坐标点确定的；若目标坐标点中误码率为零的坐标点的第一比例大于预设的比例阈值，确定SerDes芯片为合格芯片。在本申请方案中基于预先确定的误码边界轮廓，获取SerDes芯片对应的数字眼图中目标坐标点的误码率进行判断，可以降低对SerDes芯片的误判，提高SerDes芯片的良率。并且只需要获取SerDes芯片的数字眼图中预先确定的误码边界轮廓的目标坐标点的误码率，相较于完整的数字眼图获取，能够缩短筛选时间，提高SerDes芯片筛选效率。
本发明授权一种SerDes芯片的筛选方法、装置及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种SerDes芯片的筛选方法，其特征在于，所述方法包括： 基于预先确定的数字眼图中误码边界轮廓的目标坐标点，获取串行器解串器SerDes芯片对应的数字眼图中所述目标坐标点的误码率；其中，所述误码边界轮廓是预先根据合格SerDes芯片对应的数字眼图中误码率为零的边界坐标点确定的； 若所述目标坐标点中误码率为零的坐标点的第一比例大于预设的比例阈值，确定所述SerDes芯片为合格芯片。
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