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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利一种壁厚敏感的镍基单晶合金不同相位角TMF寿命预测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114547897B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210177077.0，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种壁厚敏感的镍基单晶合金不同相位角TMF寿命预测方法是由王荣桥;张斌;胡殿印;李明睿设计研发完成，并于2022-02-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种壁厚敏感的镍基单晶合金不同相位角TMF寿命预测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种壁厚敏感的镍基单晶合金不同相位角TMF寿命预测方法，其步骤为：1开展不同壁厚标准件蠕变试验，建立反映薄壁效应的高温拉伸导致的时间相关损伤模型；2开展不同壁厚标准件低循环疲劳试验，建立反映薄壁效应的循环相关损伤模型；3在步骤2基础上，开展不同壁厚标准件只含压缩保载的蠕变‑疲劳试验，建立反映薄壁效应的高温压缩导致的时间相关损伤模型；4引入有效温度衡量TMF中变化的温度，结合非线性损伤累积理论，表征TMF损伤；5考虑TMF中温度梯度的影响，建立反映薄壁效应和温度梯度影响的TMF损伤模型，实现不同壁厚标准件不同相位角TMF寿命预测。

本发明授权一种壁厚敏感的镍基单晶合金不同相位角TMF寿命预测方法在权利要求书中公布了：1.一种壁厚敏感的镍基单晶合金不同相位角TMF寿命预测方法，其特征在于，包括步骤如下： 步骤1：采用高温蠕变试验机开展不同壁厚镍基单晶合金标准件高温蠕变试验，根据蠕变寿命试验结果建立反映薄壁效应的高温拉伸导致的时间相关损伤模型； 步骤2：采用高温疲劳试验机开展不同壁厚镍基单晶合金标准件低循环疲劳试验，根据低循环疲劳寿命试验结果建立反映薄壁效应的循环相关损伤模型； 步骤3：在步骤2基础上，针对不同壁厚镍基单晶合金标准件，开展只含压缩保载的蠕变-疲劳试验，结合试验结果建立反映薄壁效应的高温压缩导致的时间相关损伤模型； 步骤4：采用有效温度衡量热机械疲劳试验中变化的温度，热机械疲劳英文缩写为TMF，结合非线性损伤累积理论表征TMF损伤，通过耦合反映薄壁效应的高温拉伸导致的时间相关损伤模型和反映薄壁效应的循环相关损伤模型表征同相热机械疲劳损伤，同相热机械疲劳英文缩写为IP-TMF，通过耦合反映薄壁效应的高温压缩导致的时间相关损伤模型和反映薄壁效应的循环相关损伤模型表征反相热机械疲劳损伤，反相热机械疲劳英文缩写为OP-TMF； 步骤5：在步骤4基础上，进一步采用壁厚相关的函数描述温度梯度的影响，建立反映薄壁效应和温度梯度影响的IP-TMF和OP-TMF损伤模型，实现不同壁厚标准件的IP-TMF和OP-TMF寿命预测； 在步骤5中，定义为： 其中，为标准件壁厚，为温度范围相关的材料常数。

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