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龙图腾网获悉湖南第一师范学院;南方科技大学申请的专利一种带散射校正的X射线能谱估计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116609819B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310578280.3，技术领域涉及：G01T1/36；该发明授权一种带散射校正的X射线能谱估计方法是由林桂元;邓世沃;陈爱永设计研发完成，并于2023-05-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种带散射校正的X射线能谱估计方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种带散射校正的X射线能谱估计方法，包括：对样品进行扫描得到原始CT投影数据；构造样品模型，对样品模型进行散射信号模拟，估计出探测器外壳带来的散射信号；对原始CT投影数据进行散射校正，得到散射校正后的投影数据；计算样品模型各个角度下的模型厚度；根据散射校正后的投影数据和各个角度下的模型厚度进行能谱估计。采用本发明提供的带散射校正的X射线能谱估计方案，更能准确快速估计出X射线的探测能谱。

本发明授权一种带散射校正的X射线能谱估计方法在权利要求书中公布了：1.一种带散射校正的X射线能谱估计方法，其特征在于，包括： 步骤1，对样品进行扫描得到原始CT投影数据； 步骤2，构造样品模型，对样品模型进行散射信号模拟，估计出探测器外壳带来的散射信号； 步骤3，对原始CT投影数据进行散射校正，得到散射校正后的投影数据 其中， 表示校正探测器外壳和被测物体带来的散射信号后的传输数据；I*lj和分别表示校正探测器外壳带来的散射信号后的穿过样品前和后的X射线信号的强度；Scj是与路径lj对应的探测器像素接收到的散射信号强度；ΩE是预设能量取值空间；φdE:＝φERE为探测器探测到的能谱，φE是X射线能谱，RE是探测器响应函数，μtotx,E线性衰减系数；lj表示X射线路径，j表示第j条X射线路径，J表示X-射线路径的指标集； 步骤4，计算样品模型各个角度下的模型厚度； 步骤5，根据散射校正后的投影数据和各个角度下的模型厚度进行能谱估计；包括： 对式11做离散化处理，得到式12和式13： 其中，I是抽样的能谱数；i表示第i个能谱；为预设能谱基；wi为能谱φdE的展开系数，如下式： 利用下式15迭代求解wi： 式15中，k为迭代次数，给定初始能谱后，初始值可通过式14确定，迭代求解得出wi； 根据wi和式14得到φdE，再根据φdE:＝φERE得到X射线能谱φE。

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