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龙图腾网获悉上海精测半导体技术有限公司申请的专利一种光学测量数据分析方法、分析系统及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114444350B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210022621.4，技术领域涉及：G06F30/23；该发明授权一种光学测量数据分析方法、分析系统及电子设备是由石雅婷;郭春付;李伟奇;陶泽;张传维设计研发完成，并于2022-01-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光学测量数据分析方法、分析系统及电子设备在说明书摘要公布了：本发明提供的一种光学测量数据分析方法，包括：对多个检测样本进行光谱分析，获取每个检测样本的偏差指数和相关系数；设立光谱偏差指数参数和光谱相关系数参数，计算每个检测样本的光谱匹配度指标，使得每个检测样本的光谱匹配度指标均大于预设的光谱匹配度指标阈值；基于偏差指数参数和相关系数参数，对待测件进行光谱分析，计算待测件的光谱匹配度指标，判断待测件是否为正常件。本发明首创性的将偏差指数和相关系数都纳入光谱匹配度指标中，从而可同时从测量光谱与仿真光谱的绝对偏差和波峰及波谷对应情况两个方面对测量结果的可靠性进行评价，通过光谱匹配度指标判断待测件的光谱匹配度，提高光谱匹配度的准确性和鲁棒性。

本发明授权一种光学测量数据分析方法、分析系统及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种光学测量数据分析方法，其特征在于，包括： S1、对多个检测样本进行光谱分析，获取每个所述检测样本的光谱偏差指数和光谱相关系数； S2、设立光谱偏差指数参数和光谱相关系数参数，结合所述光谱偏差指数、所述光谱偏差指数参数、所述光谱相关系数和所述光谱相关系数参数创建光谱匹配度指标数学模型，基于所述数学模型计算并使得所述每个检测样本的光谱匹配度指标值均大于预设的光谱匹配度指标阈值； S3、对待测件进行光谱分析，获取待测件的光谱偏差指数和光谱相关系数，并基于所述数学模型计算所述待测件的光谱匹配度指标值，若所述待测件的光谱匹配度指标值大于所述预设光谱匹配度指标阈值，则所述待测件为正常件；否则，所述待测件为异常件； 其中，所述光谱匹配度指标数学模型中， 所述光谱匹配度指标与所述光谱相关系数呈单调递增关系，所述光谱匹配度指标与所述光谱偏差指数呈单调递减关系； 所述光谱匹配度指标的范围为[0，1]

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