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龙图腾网获悉陕西华威科技股份有限公司申请的专利一种轴类零件锻造成型监测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120656006B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511159762.0，技术领域涉及：G06V10/764；该发明授权一种轴类零件锻造成型监测方法及系统是由南振祥;安世飞;王峰设计研发完成，并于2025-08-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种轴类零件锻造成型监测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种轴类零件锻造成型监测方法及系统。方法包括：获取成型后轴类零件的表面图像内像素点在HSV颜色空间中多个通道的特征值，以及像素点的梯度方向角；确定像素点的局部一致性；确定像素点之间的加权欧氏距离；根据所述加权欧氏距离，对所有像素点进行聚类，得到若干聚类簇；确定聚类簇所在图像区域的梯度显著性与候选角点个数；基于所述候选角点个数，利用Harris角点检测算法获取候选角点，根据候选角点之间的欧氏距离，衡量轴类零件锻造是否合格。本发明通过自适应聚类簇所在图像区域的候选角点个数，解决了不同几何区域特征差异大造成的识别不准问题，提升了轴类零件锻造质量监控的准确性。

本发明授权一种轴类零件锻造成型监测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种轴类零件锻造成型监测方法，其特征在于，包括： 获取成型后轴类零件的表面图像内像素点在HSV颜色空间中多个通道的特征值，以及像素点的梯度方向角； 将任一像素点记为目标像素点，根据目标像素点与邻域内像素点在HSV颜色空间中每一个通道的特征值，确定目标像素点的局部一致性； 响应于目标像素点与其余任一像素点在所有通道对应的特征向量之间的余弦相似度大于0，根据两个像素点的局部一致性以及所述余弦相似度，对两个像素点之间的欧氏距离进行加权，得到两个像素点之间的加权欧氏距离，满足： ；式中，为第个像素点与第个像素点之间的加权欧氏距离，为第个像素点与第个像素点之间的欧氏距离，为第个像素点的局部一致性，第个像素点的局部一致性，为第个像素点在所有通道对应的特征向量，为第个像素点在所有通道对应的特征向量，为第个像素点与第个像素点在所有通道对应的特征向量之间的余弦相似度，为绝对值符号； 根据所述加权欧氏距离，对所有像素点进行聚类，得到若干聚类簇； 根据聚类簇内像素点之间的梯度方向角的差异，以及聚类簇内像素点的数量，确定聚类簇所在图像区域的梯度显著性，包括：；式中，为第个聚类簇所在图像区域的梯度显著性，为第个聚类簇内第个像素点的梯度方向角，为第个聚类簇内第个像素点的梯度方向角，为第个聚类簇内像素点的数量，为标准归一化函数； 根据所述梯度显著性、所有像素点的数量，以及预设的全局阈值，确定聚类簇所在图像区域的候选角点个数，包括：；式中，为第个聚类簇所在图像区域的候选角点个数，为聚类簇的数量，为预设的全局阈值，为表面图像内像素点的数量，为四舍五入函数； 基于所述候选角点个数，利用Harris角点检测算法获取候选角点，根据候选角点之间的欧氏距离，衡量轴类零件锻造是否合格。

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