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龙图腾网获悉四川职业技术学院申请的专利一种电子元器件测试系统、方法、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120629791B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511140752.2，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权一种电子元器件测试系统、方法、设备及介质是由黄菊设计研发完成，并于2025-08-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电子元器件测试系统、方法、设备及介质在说明书摘要公布了：本申请提供一种电子元器件测试系统、方法、设备及介质，通过在待测电子元器件的输入端施加脉冲激励信号，并确定待测电子元器件的等效寄生参数集合；基于等效寄生参数集合结合待测电子元器件的测试路径构建对待测电子元器件进行测试时的信号路径仿真网络，通过信号路径仿真网络对初始测试信号进行测试响应分析，得到初始测试信号在传输过程中的信号预补偿系数；将基于信号预补偿系数确定的频谱整形测试信号施加至待测电子元器件，并确定频谱整形测试信号在待测电子元器件下的实际响应与预期响应的波形保真度；并基于波形保真度判定待测电子元器件通过是否测试。本申请提供的技术方案，可在测试信号产生畸变偏差下对待测电子元器件进行有效测试。

本发明授权一种电子元器件测试系统、方法、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种电子元器件测试方法，其特征在于，包括如下步骤： 在待测电子元器件的输入端施加脉冲激励信号，并确定所述待测电子元器件的等效寄生参数集合； 基于所述等效寄生参数集合结合待测电子元器件的测试路径构建对待测电子元器件进行测试时的信号路径仿真网络，进而通过所述信号路径仿真网络对初始测试信号进行测试响应分析，进而得到所述初始测试信号在传输过程中的信号预补偿系数； 依据所述信号预补偿系数对初始测试信号进行频谱整形处理，得到待测电子元器件的频谱整形测试信号，将所述频谱整形测试信号施加至所述待测电子元器件，并确定所述频谱整形测试信号在所述待测电子元器件下的实际响应与预期响应的波形保真度； 当所述波形保真度超过预设保真度阈值时，判定所述待测电子元器件通过测试； 其中，确定所述待测电子元器件的等效寄生参数集合具体包括： 获取待测电子元器件输出端的瞬态响应波形； 从所述瞬态响应波形中提取关键时间点的电压过冲幅值和振荡衰减时间常数； 基于所述电压过冲幅值和振荡衰减时间常数确定所述待测电子元器件的等效寄生参数集合； 其中，从所述瞬态响应波形中提取关键时间点的电压过冲幅值和振荡衰减时间常数具体包括： 对所述瞬态响应波形进行降噪滤波处理，得到预处理响应波形；基于预处理响应波形确定波形上升沿首个峰值点为关键时间点，并将所述关键时间点对应的电压值与稳态电压值的差值作为电压过冲幅值； 截取所述关键时间点之后的衰减振荡段波形数据，并提取所述衰减振荡段波形数据中的所有极大值点构成包络样本序列； 对所述包络样本序列进行指数函数拟合，提取指数函数拟合后指数衰减项的时间常数作为振荡衰减时间常数； 其中，基于所述电压过冲幅值和振荡衰减时间常数确定所述待测电子元器件的等效寄生参数集合采用下述步骤实现，即： 建立所述待测电子元器件包含寄生电阻、寄生电感和寄生电容的等效电路模型； 将所述电压过冲幅值和所述振荡衰减时间常数代入等效电路模型的时域响应方程； 通过数值迭代算法以最小化时域响应方程计算值与实测的电压过冲幅值、振荡衰减时间常数的误差为目标，对所述等效电路模型中的寄生电阻、寄生电感和寄生电容参数进行优化调整； 当时域响应方程计算值与实测的电压过冲幅值、振荡衰减时间常数的误差满足预设精度要求时，由优化后的寄生电阻、寄生电感和寄生电容参数构成所述待测电子元器件的等效寄生参数集合； 其中，基于所述等效寄生参数集合结合待测电子元器件的测试路径构建对待测电子元器件进行测试时的信号路径仿真网络具体包括： 将所述等效寄生参数集合中的寄生电阻、寄生电感和寄生电容参数转换为对应的仿真模型元件； 将测试路径的传输线段划分为多个传输子线段； 采用传输线理论中的电报方程对各个传输子线段建立频域传输矩阵； 对所述仿真模型元件与各个传输子线段的频域传输矩阵进行级联，同时接入测试源阻抗与负载阻抗，构建得到待测电子元器件进行测试时的信号路径仿真网络。

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