苏州元脑智能科技有限公司孙海涛获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利硬盘测试方法、设备、存储介质和程序产品获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120560918B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511055554.6,技术领域涉及:G06F11/22;该发明授权硬盘测试方法、设备、存储介质和程序产品是由孙海涛;刘勇;栾玉雪设计研发完成,并于2025-07-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本硬盘测试方法、设备、存储介质和程序产品在说明书摘要公布了:本申请提供了一种硬盘测试方法、设备、存储介质和程序产品,可以应用于数据存储技术领域。该硬盘测试方法包括:根据待测试硬盘的应用场景,向待测试硬盘中的存储空间写入多个数据;在未能根据存储映射信息确定多个数据中有效数据的存储地址的情况下,对待测试硬盘执行预定数目次复位操作,复位操作的起始时刻根据针对多个数据中无效数据的预定删除操作执行时刻确定;确定待测试硬盘对于预定测试指标的指标值;根据指标值确定待测试硬盘的性能稳定性。
本发明授权硬盘测试方法、设备、存储介质和程序产品在权利要求书中公布了:1.一种硬盘测试方法,其特征在于,所述方法包括: 向待测试硬盘的存储空间中写入第一数据,直至所述存储空间达到写满状态,其中所述第一数据暂处于有效状态且暂属于有效数据; 根据所述待测试硬盘的应用场景,确定所述存储空间中的预定存储子空间对应的地址信息,根据所述地址信息向所述预定存储子空间写入第二数据,以使得所述预定存储子空间中的第一目标数据由所述有效状态转变为无效状态,其中转变为所述无效状态的第一目标数据属于无效数据,其中,所述应用场景包括以下之一:所述待测试硬盘用于持久存储数据的场景、所述待测试硬盘用于实时缓存数据的场景; 在未能根据存储映射信息确定所述有效数据的存储地址的情况下,对所述待测试硬盘执行预定数目次复位操作,所述复位操作的起始时刻根据针对多个数据中无效数据的预定删除操作执行时刻确定,其中,所述预定删除操作执行时刻包括预定删除操作执行到不同进度的时刻; 确定所述待测试硬盘对于预定测试指标的指标值; 根据所述指标值确定所述待测试硬盘的性能稳定性。
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