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龙图腾网获悉杭州加速科技有限公司申请的专利提高DDIC芯片MIPI调试效率的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120559450B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511056674.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权提高DDIC芯片MIPI调试效率的方法是由翁正林;邬潇设计研发完成，并于2025-07-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本提高DDIC芯片MIPI调试效率的方法在说明书摘要公布了：本申请涉及ATE测试技术领域，公开了一种提高DDIC芯片MIPI调试效率的方法，本发明通过自动化MIPI参数配置、测试模式输出、反馈模式处理和测试迭代等关键步骤，显著提升了DDIC芯片MIPI测试项调试的效率，为半导体行业的质量控制和产品可靠性提供了有力支持；通过内置于ATE设备的MipiPattern转换工具，用户MIPI配置参数可以自动转换为ATEPattern，减少了手动配置的复杂性和出错率，提高了测试的准确性和效率；ATE设备加载ATEPattern后，能够直接以MIPI测试Pattern输出至DDIC芯片，简化了测试模式的输出流程，加快了测试速度；DDIC芯片输出的MIPI反馈Pattern能够通过内置于ATE设备的LA工具快速接收并解析，提高了反馈模式处理的效率，缩短了调试周期。

本发明授权提高DDIC芯片MIPI调试效率的方法在权利要求书中公布了：1.一种提高DDIC芯片MIPI调试效率的方法，其特征在于，具体包括以下步骤： S1.获取用户MIPI配置参数，并通过内置于ATE设备的MipiPattern转换工具转换为可被所述ATE设备识别的ATEPattern； S2：所述ATE设备加载所述ATEPattern后，以Mipi测试Pattern输出至DDIC芯片； S3：所述DDIC芯片输出Mipi反馈Pattern，并通过内置于所述ATE设备的LA工具接收并解析所述Mipi反馈Pattern以Decode显示； S4.根据所述Decode显示结果，通过所述LA工具对所述Mipi反馈Pattern编辑并同步至所述MipiPattern转换工具； S5.循环执行上述步骤，直至测试结束； 所述MIPI配置参数包括DCS命令、画像Timing、画像Data； 步骤S1中，并通内置于ATE设备中的内置MIPI协议解析工具生成可被所述ATE设备识别的Pattern，包括： 通过所述内置MIPI协议解析工具，分别： 根据LP协议解析所述DCS命令列表，并提取DataType、DCSData，以生成LowSpeed速率的Mipi配置协议，并进一步生成DIOMipiDCSPattern； 根据HS协议解析所述画像Timing参数，并提取Mipi速率、MipiLane数、Video模式、画像Size、水平后沿、水平前沿、垂直后沿、垂直前沿、水平同步宽度、垂直同步宽度及时钟频率，以生成HighSpeed速率Mipi画像协议，并进一步生成带HS协议的DIOamp;HSIFMipiFrameDataPattern； 根据画像模式解析所述画像Data信息，并提取DataMode、像素格式以更行替换MIPI数据，并进一步生成带画像Data的DIOamp;HSIFMipiFrameDataPattern。

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