北京航空航天大学李立京获国家专利权
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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利一种基于宇生μ子像图的高精度超声成像识别方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120539283B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511022462.8，技术领域涉及：G01N29/06；该发明授权一种基于宇生μ子像图的高精度超声成像识别方法是由李立京;张姮;李皓阳;郑月;田龙杰;程景春设计研发完成，并于2025-07-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于宇生μ子像图的高精度超声成像识别方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于宇生μ子像图的高精度超声成像识别方法，步骤为：S1、生成宇生μ子成像特征图；S2、构建并训练核心缺陷检测网络，输出对宇生μ子成像特征图的缺陷区域进行识别的缺陷概率图；S3、对成像物体的缺陷区域进行超声成像，并进行彩色映射重建得到超声彩色图像；S4、分别获取宇生μ子成像特征图的非缺陷区域掩膜和超声彩色图像的缺陷区域掩膜，并经图像融合得到融合图像；该方法适用于大范围高精度的无损成像检测，其在利用宇生μ子可以做到大范围、无剂量透射成像的基础上，对缺陷区域进行有效识别并与缺陷区域的超声成像相融合，实现对局部缺陷位置的高精度成像，且兼具无损成像和完全无辐射的优势。
本发明授权一种基于宇生μ子像图的高精度超声成像识别方法在权利要求书中公布了：1.一种基于宇生μ子像图的高精度超声成像识别方法，其特征在于，步骤如下： S1、对内置成像物体的封闭区块铺设上、下两路的液体闪烁体μ子探测器，采集各μ子穿入封闭区块的真实径迹信息和穿出封闭区块的真实径迹信息，以生成宇生μ子成像特征图； S2、构建并训练核心缺陷检测网络，对步骤S1生成的宇生μ子成像特征图进行缺陷区域识别，并输出缺陷概率图，以确定成像物体的缺陷区域； S3、根据步骤S2的识别结果，对成像物体的缺陷区域进行超声成像，再通过将超声成像中的回波幅度归一化至[0,255]区间，并进行彩色映射，得到能够与宇生μ子成像特征图相融合的超声彩色图像； S4、分别获取宇生μ子成像特征图的非缺陷区域掩膜和超声彩色图像的缺陷区域掩膜，二者通过图像融合，得到清晰显示有封闭区块内成像物体缺陷位置和形状的融合图像。
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