合肥工业大学闫佩正获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥工业大学申请的专利散斑干涉测量系统及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120488984B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510620162.3,技术领域涉及:G01B11/16;该发明授权散斑干涉测量系统及方法是由闫佩正;刘向玮;丁墨函;王永红设计研发完成,并于2025-05-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本散斑干涉测量系统及方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种散斑干涉测量系统及方法,涉及一种光学测量系统,包括平行光发生装置,用于产生平行光;部分所述平行光被反射镜一反射后照射在分光棱镜一上,被分光棱镜一分为反射光一和透射光;部分所述反射光一照射在被测面上发生漫反射,形成反射光二;部分反射光二依次穿过分光棱镜一、傅里叶透镜一、光阑、傅里叶透镜二和分光棱镜二后,作为物光照射在相机成像面上;部分透射光依次被反射镜二、反射镜三和分光棱镜二反射后,作为参考光照射在相机成像面上;本发明提供的系统有助于解决现有技术中因面内变形较大导致的退相关效应的问题。
本发明授权散斑干涉测量系统及方法在权利要求书中公布了:1.一种散斑干涉测量系统,其特征在于,包括平行光发生装置,用于产生平行光; 部分所述平行光被反射镜一反射后照射在分光棱镜一上,被分光棱镜一分为反射光一和透射光; 部分所述反射光一照射在被测面上发生漫反射,形成反射光二; 部分反射光二依次穿过分光棱镜一、傅里叶透镜一、光阑、傅里叶透镜二和分光棱镜二后,作为物光照射在相机成像面上; 部分透射光依次被反射镜二、反射镜三和分光棱镜二反射后,作为参考光照射在相机成像面上; 其中,傅里叶透镜一和傅里叶透镜二构成4f系统,被测面处于傅里叶透镜一的前焦面上,相机成像面处于傅里叶透镜二的后焦面上,光阑处于4f系统的频谱面上; 利用所述系统进行散斑干涉测量的方法包括: 获取同一坐标系下,被测面变形前后所得两副散斑干涉图; 获取搜索集中各元素与选定块对应的振幅相关系数,且,为统计平均,为共轭操作; 为相机成像面上二维坐标系内点的坐标,且所述二维坐标系的原点为4f系统中光轴与相机成像面的交点; 为选定块内的物光复振幅,为遍历块内的物光复振幅;其中,选定块由搜索框在被测面变形前所得散斑干涉图中框选所得,遍历块则由搜索框按设定遍历规则在被测面变形后所得散斑干涉图中框选所得,搜索框按设定遍历规则在被测面变形后所得散斑干涉图中框选所得所有遍历块组成搜索集; 之后获取所有振幅相关系数中最大值对应的遍历块,并作为偏移块; 获取遍历块对应干涉图偏移后所得校正干涉图,且校正干涉图中偏移块的中心坐标与选定块中心坐标相同; 以校正干涉图与选定块对应干涉图进行被测面面外变形量的计算。
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