东北大学苏涵光获国家专利权
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龙图腾网获悉东北大学申请的专利基于混沌特征检测芯片缺陷的方法、电子设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120298376B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510437604.0，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于混沌特征检测芯片缺陷的方法、电子设备及介质是由苏涵光;石宸宁;穆云飞;杨珺;罗艳红;周博文;黄博南;刘鑫蕊;李广地;谷鹏设计研发完成，并于2025-04-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于混沌特征检测芯片缺陷的方法、电子设备及介质在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于混沌特征检测芯片缺陷的方法、电子设备及介质，包括获取芯片在工作状态下的物理量数据，确定所述物理量数据的嵌入维数和嵌入延迟，根据所述嵌入维数和所述嵌入延迟，重构所述物理量数据的重构相空间，根据所述重构相空间，确定所述物理量数据的混沌特征值，将所述物理量数据以及所述混沌特征值，输入预先构建的HKLS‑SVM模型进行检测，得到检测结果。这样，可以基于混沌特征实现精准、快速地捕捉芯片微小缺陷产生的微弱信号变化，提高芯片缺陷的检测精度，且混沌算法对应的模型对数据依赖性较低，训练过程和计算过程简单，提高了芯片检测的效率，降低了芯片检测的成本。
本发明授权基于混沌特征检测芯片缺陷的方法、电子设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种基于混沌特征检测芯片缺陷的方法，其特征在于，包括： 获取芯片在工作状态下的物理量数据和所述芯片的属性数据；其中，所述芯片的属性数据包括所述芯片的尺寸、所述芯片的材料和所述芯片的电路布局；所述物理量数据包括电流、电压和温度； 确定所述物理量数据的嵌入维数和嵌入延迟； 根据所述嵌入维数和所述嵌入延迟，重构所述物理量数据的重构相空间； 根据所述重构相空间，确定所述物理量数据的混沌特征值； 将所述物理量数据以及所述混沌特征值，输入预先构建的HKLS-SVM模型进行检测，得到检测结果； 若所述检测结果表示芯片存在缺陷，获取所述芯片上多个传感器检测到异常物理量数据的时间差； 根据所述芯片的尺寸，确定每个传感器的位置； 根据所述芯片的材料和所述芯片的电路布局，确定所述异常物理量数据的传输速度； 根据所述时间差、所述每个传感器的位置和所述传输速度，确定所述芯片的缺陷位置。
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