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龙图腾网获悉长沙理工大学申请的专利一种协调铺装体系与下承结构刚度差异的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119939718B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510008792.5，技术领域涉及：G06F30/13；该发明授权一种协调铺装体系与下承结构刚度差异的方法是由黄优;余时清;刘朝晖;刘靖宇;柳力;杨鑫设计研发完成，并于2025-01-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种协调铺装体系与下承结构刚度差异的方法在说明书摘要公布了：一种协调铺装体系与下承结构刚度差异的方法，包括以下步骤：步骤S1：初拟目标铺装结构组合：在原基准铺装结构的基础上，在表面铺装体系与下承结构之间增设刚度过渡层，构建刚度过渡铺装结构；刚度过渡铺装结构包括从上至下的表面铺装体系、刚度过渡层和下承结构。步骤S2，根据目标铺装结构组合，建立刚度过渡铺装结构力学模型；步骤S3：根据刚度过渡铺装结构力学模型，设计响应曲面分析试验，得到最终的响应曲面模型；步骤S4：根据最终的响应曲面模型，拟定目标铺装结构参数。本发明能够实现铺装结构内表面铺装体系与其下承结构刚度过渡，协调其刚度差异，降低铺装结构应力水平。

本发明授权一种协调铺装体系与下承结构刚度差异的方法在权利要求书中公布了：1.一种协调铺装体系与下承结构刚度差异的方法，其特征在于：包括以下步骤： 步骤S1：初拟目标铺装结构组合：在原基准铺装结构的基础上，在表面铺装体系与下承结构之间增设刚度过渡层，构建刚度过渡铺装结构；刚度过渡铺装结构包括从上至下的表面铺装体系、刚度过渡层和下承结构； 步骤S1中，所述刚度过渡铺装结构包括从上至下的表面铺装体系、刚度过渡层、第一下承结构、第二下承结构、第三下承结构； 步骤S2，根据目标铺装结构组合，建立刚度过渡铺装结构力学模型； 步骤S3：根据刚度过渡铺装结构力学模型，设计响应曲面分析试验，得到最终的响应曲面模型； 步骤S3中，所设计的响应曲面试验以表面铺装体系刚度过渡层最大剪应力y为输出变量，输入变量分别为表面铺装体系厚度、刚度过渡层厚度和刚度过渡层模量与表面铺装体系模量比值，简称模量比，每个输入变量因素取高、中、低三个水平，响应曲面分析试验采用Box-Behnken设计方法，根据设定的响应曲面分析试验，计算表面铺装体系剪应力、刚度过渡层剪应力和最大剪应力，其中最大剪应力=MAX表面铺装体系剪应力，刚度过渡层剪应力，以降低表面铺装体系及刚度过渡层剪应力水平为目标，使得=MAX表面铺装体系剪应力，刚度过渡层剪应力最小； 假设y为输出变量，与输入变量表面铺装体系厚度，刚度过渡层厚度，刚度过渡层与表面铺装体系模量比存在如下关系： 1 2 式中：为随机变量或随机误差，为常数；、为输入变量，i=1,2,3，j=1,2,3，为的线性效应系数；为与之间的线性交互作用系数；为的二次效应系数； 当试验区域接近或在最优区域内时，响应值与因素之间呈现非线性关系，对最大剪应力数据进行拟合，得到最终的响应曲面模型； 步骤S4：根据最终的响应曲面模型，拟定目标铺装结构参数。

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