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龙图腾网获悉中国科学院高能物理研究所申请的专利一种中能原位X射线吸收谱学测试系统及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119619191B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411810250.1，技术领域涉及：G01N23/085；该发明授权一种中能原位X射线吸收谱学测试系统及测试方法是由张静;夏英浩;储胜启;黄换;安鹏飞设计研发完成，并于2024-12-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种中能原位X射线吸收谱学测试系统及测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种中能原位X射线吸收谱学测试系统及测试方法。本系统包括真空腔，其内设有双平晶单色器、前电离室、样品腔和探测器；其中，样品腔用于放置待测样品；计算机单元用于发送指令给QXAFS电子学控制双平晶单色器连续转动，将入射到双平晶单色器上的同步辐射光连续输出到样品腔内，激发样品产生荧光信号和俄歇电子；前电离室用于采集X射线并发送给电流放大器；电流放大器对入射光强信号I0进行放大后输入到低通滤波器；探测器采集荧光信号发送给弱电流计；弱电流计采集俄歇电子获得样品的全电子产额信号It、荧光产额信号If发送给低通滤波器；低通滤波器对输入信号进行高频噪声过滤后输入到电子学形成样品的X射线吸收谱。

本发明授权一种中能原位X射线吸收谱学测试系统及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种中能原位X射线吸收谱学测试系统，其特征在于，包括计算机单元、QXAFS电子学设备、驱动器、电流放大器、低通滤波器、弱电流计和真空腔，所述真空腔内设有双平晶单色器、前电离室、样品腔和探测器；其中， 所述样品腔，用于放置待测试的中能能区样品； 所述计算机单元，用于发送指令给所述QXAFS电子学设备控制所述驱动器驱动所述双平晶单色器连续转动，将入射到所述双平晶单色器上的同步辐射光连续输出到所述样品腔内，激发所述样品产生荧光信号和俄歇电子； 所述前电离室，用于采集所述双平晶单色器输出的X射线并发送给所述电流放大器； 所述电流放大器，用于根据输入的X射线获取入射到所述样品腔的X射线的入射光强信号I0，以及对入射光强信号I0进行放大后输入到所述低通滤波器； 所述探测器，用于采集所述荧光信号并将其转化为电信号后发送给所述弱电流计； 所述弱电流计，用于分别与所述样品腔连接采集所述俄歇电子获得所述样品的全电子产额信号It并发送给所述低通滤波器，与所述探测器连接获得所述样品的荧光产额信号If并发送给所述低通滤波器； 所述低通滤波器，用于对输入信号进行高频噪声过滤后输入到所述QXAFS电子学设备； 所述QXAFS电子学设备对输入信号进行处理生成所述样品的全电子产额下的XAFS或荧光产额下的XAFS并输入所述计算机单元形成所述样品的X射线吸收谱。

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