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龙图腾网获悉成都天奥技术发展有限公司申请的专利适用于FPGA类器件功能性能的通用验证系统、装置、方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119596122B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411645104.8，技术领域涉及：G01R31/3185；该发明授权适用于FPGA类器件功能性能的通用验证系统、装置、方法是由杨科瑞;陈镜屹;胡丹;杨晓;黄凯冬;沈世科设计研发完成，并于2024-11-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本适用于FPGA类器件功能性能的通用验证系统、装置、方法在说明书摘要公布了：本发明公开了适用于FPGA类器件功能性能的通用验证系统、装置、方法，涉及FPGA类器件测试技术领域，包括验证硬件、验证软件、验证辅助仪器、环境设备，具体验证步骤：步骤一：片内逻辑功能验证；步骤二：常用接口功能验证；步骤三：软硬件适应性功能验证；步骤四：综合性能功能验证；步骤五：动态功耗测试；步骤六：常用IP功能验证；步骤七：关联参数测试；步骤八：系统适应性；步骤九：环境适应性。该通用验证系统，适用于串行接口功能、多路IO兼容性测试功能、开发软件平台适应性、仿真器适应性、配置方式、配置启动时间、信号处理功能以及官方IP支持性等验证，对高速接口协议、Aurora协议、DDR协议、IIC协议、SPI协议等功能。

本发明授权适用于FPGA类器件功能性能的通用验证系统、装置、方法在权利要求书中公布了：1.适用于FPGA类器件功能性能的通用验证方法，其特征在于，包括以下验证步骤： 步骤一：片内逻辑功能验证，具体内容如下： 1I2C通信：板内闭环测试方式，通过FPGA程序对I2C接口的E2PROM进行写入和读取操作，将写入数据和读出数据发送给上位机，上位机对比数据是否一致，判断该功能是否正常； 2SPI通信：板内闭环测试方式，通过FPGA程序对SPI接口的E2PROM进行写入和读取操作，将写入数据和读出数据发送给上位机，上位机对比数据是否一致，判断该功能是否正常； 3片内存储器读写:板内闭环测试方式，通过FPGA程序对FPGA内部存储器进行写入和读取操作，将写入数据和读出数据发送给上位机，上位机对比数据是否一致，判断该功能是否正常； 4乘法器：板内闭环测试方式，调用乘法器IP，配被乘数A和乘数B的位宽为4bit，输出积P宽度为8bit；A和B的值为1～15递增，一共225组，将相乘数和积值发往上位机，上位机验证计算结果； 5串口通信：上位机发送自检命令，FPGA解析成功后，回自检成功信息给上位机； 6以太网通信：上位机发送自检命令，FPGA解析成功后，回自检成功信息给上位机； 步骤二：常用接口功能验证，具体内容如下： 1调试接口功能：通过JTAG烧写器，扫描FPGA器件，并烧录软件到FPGA，烧写后在线调试和运行； 2高速串行接口功能：板内闭环测试方式，通过Aurora协议实现光纤通信，采用光口回环方式进行测试，将发送数据和接收数据发送给上位机，上位机对比数据是否一致，判断该功能是否正常； 步骤三：软硬件适应性功能验证，具体内容如下： 开发软件平台适应性功能：通过FPGA开发软件平台编译、烧录、进入调试模式，对FPGA进行在线调试，实时查看FPGA运行状态； 步骤四：综合性能功能验证，具体内容如下： 1配置方式：将配置方式的拨码开关改变FPGA的不同配置方式，打开电源，FPGA的启动指示灯DONE指示灯由灭变为亮为正常，否则为异常； 2配置启动时间：测量FPGA的VCCO上升到90%开始到DONE信号跳变为“高电平”的时间差，即为配置启动时间； 3信号处理功能：FPGA调用FFTIP，配置50M时钟，将预存的一组单音采用数据输入FFTIP，再经IP输出的实部虚部数据发送给上位机，由上位机将数据处理成相频曲线，判断是否正常； 步骤五：动态功耗测试，具体内容如下： VCCINT工作电流、电压：验证板卡在FPGA的内核电压输入路径上设计一个微阻值的大功率精密电阻，配合电流监测芯片对该电阻的电流、电压进行实时测试，测试结果通过上位机软件显示； 步骤六：常用IP功能验证，具体内容如下： 1DDR：板内闭环测试方式，通过FPGA程序对DDR存储器进行写入和读取操作，将写入数据和读出数据发送给上位机，上位机对比数据是否一致，判断该功能是否正常； 2时钟发生器：FPGA调用内部PLL，通过示波器监测PLL后的时钟应为50MHz； 3FIFO：板内闭环测试方式，通过FPGA程序对内部FIFO存储器进行写入和读取操作，将写入数据和读出数据发送给上位机，上位机对比数据是否一致，判断该功能是否正常； 步骤七：关联参数测试，具体内容如下： VCCINT工作电流与FPGA资源利用率变化关联参数测试：分别设计10%，20%，30%，40%，50%，60%，70%资源使用率的FPGA应用程序，烧入后运行，记录对应的VCCINT工作电流，形成动态电流与资源利用率的关联曲线； 步骤八：系统适应性，具体内容如下： 内核电压拉偏：验证板卡采用设计内核电压的DCDC芯片的不同配置电阻，通过拨码开关选择不同电阻，控制其输出的内核电压处于正常、上偏、下偏三种不同幅度；试验时通过拨码开关，调整内核电压为正常、上偏、下偏，实现内核电压拉偏，在拉偏条件下，对FPGA的上述各种功能进行测试； 步骤九：环境适应性，具体内容如下： 按照环境试验条件施加环境应力，期间进行片内逻辑、高速串行接口、信号处理、常用IP功能测试，试验结束后恢复到常温条件下，进行最终测试；包括高低温工作试验、高低温冲击试验、高低温贮存试验、力学振动试验、力学冲击试验、低气压工作试验。

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