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龙图腾网获悉上海交通大学申请的专利一种相干光宽场照明下单帧散斑图像重建方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119579725B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411733896.4，技术领域涉及：G06T11/00；该发明授权一种相干光宽场照明下单帧散斑图像重建方法是由苗鹏设计研发完成，并于2024-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种相干光宽场照明下单帧散斑图像重建方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种相干光宽场照明下单帧散斑图像重建方法，方法包括以下步骤：对成像目标进行照明；收集成像目标背向散射光，得到散斑图像，并记录曝光时间；计算一阶矩、二阶矩、三阶矩和四阶矩；计算单次散射分量的一阶矩和二阶矩以及多次散射分量的一阶矩和二阶矩，得到对应的图像，若不要求实时成像，可以采用极大似然估计的方法得到对应的图像。与现有技术相比，本发明具有减少多帧重建造成的伪迹影响，提高重建精度等优点。

本发明授权一种相干光宽场照明下单帧散斑图像重建方法在权利要求书中公布了：1.一种相干光宽场照明下单帧散斑图像重建方法，其特征在于，方法包括以下步骤： S1、对成像目标进行照明； S2、收集成像目标背向散射光，得到散斑图像，并记录曝光时间τcG； S3、对散斑图像中每一个区域所有灰度值数据计算一阶矩μ1、二阶矩μ2、三阶矩μ3和四阶矩μ4，若要求实时成像，则执行S4，若不要求实时成像，则执行S17； S4、判断曝光时间τcG是否满足τcM≤τcG≤0.1τcS，其中，τcS和τcM分别为单次散射分量和多次散射分量散斑退相干时间，若是，则执行S5，反之执行S9； S5、计算单次散射分量的一阶矩μS； S6、计算单次散射分量的二阶矩 S7、计算多次散射分量的一阶矩μM； S8、计算多次散射分量的二阶矩然后执行S16； S9、计算协方差矩阵W； S10、并对协方差矩阵W进行特征值分解，得到最小特征值为λmin； S11、基于S3得到的二阶矩μ2、三阶矩μ3和四阶矩μ4求解无偏参数 S12、计算多次散射分量的二阶矩 S13、计算单次散射分量的二阶矩 S14、计算单次散射分量的一阶矩μS； S15、计算多次散射分量的一阶矩μM，然后执行S16； S16、在整个散斑图像上，使用的空间窗进行滑动，对将每个空间窗数据作为一个区域执行S3～S15，得到单次散射分量的一阶矩图像、单次散射分量的二阶矩图像、多次散射分量的一阶矩图像和多次散射分量的二阶矩图像； S17、采用极大似然估计的方法，得到单次散射分量的一阶矩图像、单次散射分量的二阶矩图像、多次散射分量的一阶矩图像和多次散射分量的二阶矩图像。

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