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龙图腾网获悉东南大学申请的专利一种光谱光场成像测温系统的测量范围扩展方法及成像装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119509698B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411735752.2，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权一种光谱光场成像测温系统的测量范围扩展方法及成像装置是由许传龙;李金键;张彪;李健设计研发完成，并于2024-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光谱光场成像测温系统的测量范围扩展方法及成像装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光谱光场成像测温系统的测量范围扩展方法及成像装置，光谱光场成像测温系统测量范围扩展方法包括：通过黑体炉标定实验建立测温系统光谱信道的响应模型；建立目标函数，并对建立的目标函数进行寻优，获得信道中心波长的衰减片透过率。通过获得中心波长的衰减片透过率，完成对光谱光场成像测温系统测量范围的扩展。本发明的方法可适用于不同光谱特性的测温对象、结合指定测温区间，通过调整衰减片透过率参数，保证了各信道动态响应的一致性，拓宽了测温系统的测量范围。

本发明授权一种光谱光场成像测温系统的测量范围扩展方法及成像装置在权利要求书中公布了：1.一种光谱光场成像测温系统的测量范围扩展方法，包括： 使用光纤光谱仪对待测目标对象的光谱特性进行采集，得到待测目标对象燃烧过程的发射峰波段； 在测温系统的响应波长范围内，避开待测目标对象燃烧过程的发射峰波长，并在保证信道波长间距为20-30nm条件下，任意选取信道下的中心波长λ，确定信道数量Channel； 通过黑体炉标定实验建立光谱光场成像测温系统信道响应模型： 式中，h1和h2是普朗克常数，分别为3.7148×10-16W·m2、1.4388×10-2m·K；grayλ为对应光谱信道下传感器的灰度响应；Δt是成像装置的曝光时间；Tλ,min是使用待测对象拍摄过程中曝光参数下，信道下灰度响应值为2％FR时对应的黑体炉温度；Tλ,max是当前信道下灰度响应值为90％FR时，对应黑体炉温度；FR表示满量程；Φλ是中心波长为λ的信道的衰减片透过率；Δλ是光谱信道的半峰宽；Eλ为信道中心波长为λ的光谱辐射强度；为指定信道下对应关系式的系数；bλ,Noise为关系式的常数项；q是关系式的最高次数，取q≤4； 建立目标函数F： 式中，N为粒子维度数，N＝Channel-1，Channel为信道数量；是第n个信道下第m标定点理论值；是响应特性最低的参考信道下的第m个标定点理论值，并且低响应特性的信道的衰减率默认为100％；M为信道的灰度理论计算点的数目； 对建立的目标函数进行寻优，获得中心波长为λ的衰减片透过率Φλ。

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