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龙图腾网获悉西安理工大学申请的专利基于小样本的双分支轮廓增强式工业品缺陷检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119151860B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411023745.X，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于小样本的双分支轮廓增强式工业品缺陷检测方法是由张二虎;段敬红;艾叙伊设计研发完成，并于2024-07-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于小样本的双分支轮廓增强式工业品缺陷检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开的基于小样本的双分支轮廓增强式工业品缺陷检测方法，包括以下步骤：1.构建工业品的正样本图像数据集和缺陷样本图像数据集；2.构建去背景模块，对参考图像和待配准图像去背景；3.构建图像旋转粗配准模块，对第一待配准图像进行旋转至与第一参考图像对齐；4.构建双分支特征级精配准模块，求解特征图c的均值及方差，作为工业品的模板特征；5.求解同一工业品缺陷样本图像的特征图d和异常分数矩阵；6.建立自适应缺陷阈值分割网络，得到缺陷分割图像。本发明实现了在小样本场景下检测精度和模型通用性之间更好的平衡。

本发明授权基于小样本的双分支轮廓增强式工业品缺陷检测方法在权利要求书中公布了：1.基于小样本的双分支轮廓增强式工业品缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：构建工业品的正样本图像数据集和缺陷样本图像数据集； S2：构建去背景模块，输入同一工业品两幅不同的正样本图像，一幅作为参考图像，一幅作为待配准图像，利用Otsu二值化方法和Canny边缘检测算子分别对参考图像和待配准图像去背景，得到第一参考图像和第一待配准图像； S3：构建图像旋转粗配准模块，对第一待配准图像进行旋转至与第一参考图像对齐，得到第二待配准图像； S4：构建双分支特征级精配准模块，并用正样本图像数据集训练后，输入第一参考图像和第二待配准图像进行精准对齐，得到第一参考图像的特征图a和第二待配准图像的特征图b，对特征图a和特征图b上采样进行通道维度拼接后得到特征图c，求解特征图c的均值及方差，作为工业品的模板特征； S5：求解同一工业品缺陷样本图像的特征图d，计算特征图d与模版特征的马氏距离，作为缺陷样本图像的异常分数矩阵； S6：建立自适应缺陷阈值分割网络，求解最佳的分割全局阈值，用分割全局阈值对异常分数矩阵进行分割，得到缺陷分割图像。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人西安理工大学，其通讯地址为：710048 陕西省西安市碑林区金花南路5号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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