华南师范大学陈同生获国家专利权
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龙图腾网获悉华南师范大学申请的专利一种用于定量荧光共振能量转移显微成像的照明光场校正方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119151830B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411121652.0,技术领域涉及:G06T5/77;该发明授权一种用于定量荧光共振能量转移显微成像的照明光场校正方法及系统是由陈同生;刘勇强;王玥;胡敏;孙贝妮设计研发完成,并于2024-08-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于定量荧光共振能量转移显微成像的照明光场校正方法及系统在说明书摘要公布了:本发明为一种用于定量荧光共振能量转移显微成像的照明光场校正方法及系统,其方法包括步骤:S1、建立图像非均匀性校正模型;S2、测定暗场信号分布函数;S3、测定背景信号分布函数和背景校正系数;S4、测定前景信号分布函数和前景校正系数;S5、重复步骤S2‑S4分别得到FRET三通道的暗场、背景和前景信号分布函数以及背景和前景校正系数;S6、基于图像非均匀性校正模型,利用测定的信号分布函数和校正系数校正活细胞FRET三通道荧光图像的非均匀性。本发明无需重复准备参考样本,仅需测定一次就能够有效校正显微成像系统中的照明不均匀性,并且能够保持FRET三通道图像灰度之间的比例,从而在大幅提高单帧大视野图像中可用数据量的同时保证定量FRET测量的准确性。
本发明授权一种用于定量荧光共振能量转移显微成像的照明光场校正方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种用于定量荧光共振能量转移显微成像的照明光场校正方法,其特征在于,包括以下步骤: S1、建立图像非均匀性校正模型,将图像划分为前景信号、背景信号以及暗场信号,通过对不同信号的分布进行测定,校正其不均匀性,从而获得照明均匀的图像; S2、测定暗场信号分布函数,关闭显微成像系统照明光源并屏蔽外界环境光的干扰,在相机最低曝光时间下连续采集多帧图像,并对采集到的图像取其平均,得到暗场信号分布函数; S3、测定背景信号分布函数和背景校正系数,以不含细胞的培养基为样本,在与细胞相同的成像条件下连续采集多帧图像,并对采集到的图像取其平均,然后减去步骤S2得到的暗场信号分布函数,从而得到背景信号分布函数,基于获取的背景信号分布函数逐像素计算背景校正系数; S4、测定前景信号分布函数和前景校正系数,以荧光校准载玻片为样本,在不过曝的条件下连续采集多帧图像,并对采集到的图像取其平均,然后减去暗场信号分布函数与背景信号分布函数,从而得到前景信号分布函数,基于获取的前景信号分布函数逐像素计算前景校正系数; S5、重复步骤S2-S4分别得到FRET三通道的暗场、背景和前景信号分布函数以及背景和前景校正系数; S6、基于图像非均匀性校正模型,利用测定的信号分布函数和校正系数校正活细胞FRET三通道荧光图像的非均匀性;基于步骤S1建立的图像非均匀性校正模型,根据步骤S5得到的FRET三通道背景信号分布函数和背景校正系数,以背景均匀的区域的平均灰度作为理想灰度,对活细胞FRET三通道荧光图像做逐像素背景校正,根据步骤S5得到的前景信号分布函数和前景校正系数,以前景均匀的区域的平均灰度作为理想灰度,对活细胞FRET三通道荧光图像做逐像素前景校正,最后输出校正后的均匀的FRET三通道荧光图像。
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