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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种测量带气膜孔高温合金样件表面等效发射率的实验装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116295848B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310118226.0，技术领域涉及：G01J5/00；该发明授权一种测量带气膜孔高温合金样件表面等效发射率的实验装置是由牛夷;姜晶;张泽展;张子龙;王超设计研发完成，并于2023-02-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测量带气膜孔高温合金样件表面等效发射率的实验装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种测量带气膜孔高温合金样件表面等效发射率的实验装置，包含可通入压缩空气的样件固定套筒、电磁感应加热模块、压缩气源模块和光谱信息采集模块五个部分；待测带气膜孔的圆形高温合金样件安装在样件固定装置上，使用电磁感应加热模块对高温合金样件进行加热，采用空气压缩机对整个实验装置提供冷气，使用光谱信息采集模块对样件的气膜孔区域进行光谱发射率的测量，进而得到样件在不同温度下的等效光谱发射率。提供温度和冷气量可变的高温合金样件测试条件，实现待测样件在冷却状态下的高温，并且加热装置可适应不同合金材料和厚度的样件，测量得到的光谱发射率可对航空发动机涡轮叶片辐射测温提供重要的数据支持。

本发明授权一种测量带气膜孔高温合金样件表面等效发射率的实验装置在权利要求书中公布了：1.一种测量带气膜孔高温合金样件表面等效发射率的实验装置，该装置包括：计算机、光谱仪、聚焦系统、加热系统，所述加热系统用于加热合金样件，光谱仪通过聚焦系统采集合金样件表面的辐射光，并将采集数据传输给计算机进行分析计算，得到合金样件表面等效发射率； 首先使用本装置测量通入压缩空气状态下带气膜孔样件的光谱能量曲线L带孔平面λ，T，然后使用相同本装置测量参考黑体炉在温度T下的光谱能量曲线L完全平面λ，T及样件的材料发射率ε0λ,T，进而采用如下公式得到带气膜孔样件的等效发射率εeλ,T； 其中，λ为光谱波长，T为样件温度； 所述加热系统包括：电磁加热主机、电磁加热线圈、固定套筒、样件压圈、套筒固定座、冷气接头；所述电磁加热线圈由电磁加热主机控制，所述固定套筒一端开口另一端密封设置冷气接头，固定套筒开口的一端内部设置样件压圈，样件压圈用于固定合金样件，所述固定套筒设置于套筒固定座上； 所述合金样件为圆柱形，上下表面开设有贯通的气膜孔，合金样件固定于样件压圈内时，冷气从固定套筒一端的冷气接头吹入，从合金样件的气膜孔吹出；合金样件侧面开设有热电偶测温插孔，热电偶测温插孔的深度为圆柱形的半径；所述固定套筒、样件压圈上同样开设有与合金样件配合的热电偶测温插孔。

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