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龙图腾网获悉中国科学院光电技术研究所申请的专利一种基于FPGA的可配置通用斜率处理方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116127547B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310186211.8，技术领域涉及：G06F30/10；该发明授权一种基于FPGA的可配置通用斜率处理方法是由梅月;甘永东;马瑞浩;斯那卓玛;贾启旺;吴天祎;苟德明设计研发完成，并于2023-03-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于FPGA的可配置通用斜率处理方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于FPGA的可配置通用斜率处理方法。该方法通过参数化配置传感器靶面、子孔径排布及子孔径大小来实现斜率的计算。该方法在参数化配置斜率存储器模块时，只需图像宽度*2bit的存储器空间，大大减少了片上资源的耗费，增加了系统的稳定性与鲁棒性。本发明的可移植性高，能够应用于多个工程项目中。

本发明授权一种基于FPGA的可配置通用斜率处理方法在权利要求书中公布了：1.一种基于FPGA的可配置通用斜率处理方法，其特征在于：根据自适应光学系统的传感器参数、光学参数、子孔径排布及子孔径像素大小，计算出子孔径的斜率，具体步骤如下： 步骤1：参数化配置靶面，子孔径排布，子孔径大小； 步骤2：设计斜率处理模块的存储器大小为Width2bit；确定出子孔径有效信号，子孔径像素行结束信号，通过FPGA逻辑处理和子孔径大小确定子孔径结束信号，同时也根据上述信号确定子孔径的X方向地址和Y方向的地址； 步骤3：根据传感器的像素灰度值、子孔径的X方向地址和Y方向地址，计算出gxmul_sig，将gxmul_sig累加至gxacc_sig，子孔径有效时gxacc_sig累加；一个像素行中最后一个子孔径中最后一个像素有效时清零； 步骤4：根据gxacc_sig，当子孔径像素行结束信号到来时，将gxacc_sig赋值给xacc_pre_sig；然后在子孔径像素行结束时，将xacc_pre_sig赋给xacc_sec_sig，将其相减得到xacc_thr_sig； 步骤5：通过信号判断是否为每一个子孔径行的第一个像素行，若为第一个像素行，则xacc_lastlv_sig为0，否则信号保持； 步骤6：根据步骤4的输出与步骤5的输出相加得到xacc_fou_sig； 步骤7：将xacc_fou_sig通过移位寄存器延迟得到xacc_lastlv_sig； 步骤8：在子孔径结束信号时，将xacc_fou_sig赋给X方向的累加和xacc_ram_sig，y方向的累加和yacc_ram_sig与图像灰度累加和iacc_ram_sig的计算与上述过程一致，重复上述步骤即可； 步骤9：将X方向的累加和xacc_ram_sig，y方向的累加和yacc_ram_sig送入除法模块，最终得到除法结果slop_x与slop_y，最终计算出子孔径的斜率x_slop，y_slop。

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