长鑫存储技术有限公司石宏龙获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利一种用于测试内存信号的测试板获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115878390B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-14发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111134623.4,技术领域涉及:G06F11/22;该发明授权一种用于测试内存信号的测试板是由石宏龙;马茂松设计研发完成,并于2021-09-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于测试内存信号的测试板在说明书摘要公布了:本申请实施例提供一种用于测试内存信号的测试板,包括:所述测试板的第一表面包括凸起区域和非凸起区域;其中:所述凸起区域上设置有用于连接主板的第一连接区,所述凸起区域所在平面相对于所述非凸起区域所在平面的高度大于预设值;所述测试板的第二表面包括所述测试区和用于连接内存芯片的第二连接区;所述测试板内设有将所述测试区分别连接到所述第一连接区和所述第二连接区的第一连接线束和第二连接线束,使得基于所述测试区能够测试所述内存芯片的内存信号。本申请能够去除主板上内存芯片的安装位置的尺寸大小的限制,不与内存芯片周边器件发生物理干涉,且无需加入RC匹配,测试板结构更简单。
本发明授权一种用于测试内存信号的测试板在权利要求书中公布了:1.一种用于测试内存信号的测试板,其特征在于, 包括: 所述测试板的第一表面包括凸起区域和非凸起区域;其中:所述凸起区域上设置有用于连接主板的第一连接区,所述凸起区域所在平面相对于所述非凸起区域所在平面的高度大于预设值; 所述测试板的第二表面包括测试区和用于连接内存芯片的第二连接区; 所述测试板内设有将所述测试区分别连接到所述第一连接区和所述第二连接区的第一连接线束和第二连接线束,使得基于所述测试区能够测试所述内存芯片的内存信号。
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